Difracción de rayos X: análisis de las fuentes de error en la medición e identificación de un componente cristalino en una mezcla de sólidos cristalinos y amorfos

FABRICIO LOZANO; FLAVIA GESUALDI

Exposición; Charlas finales experimental III; 2016

Se estudió la técnica de la difracción de rayos X en polvos. Se analizaron las influencias de diferentes fuentes de error en los difractogramas: la posición de la superficie de la muestra, la rotación de la muestra, el tamaño de grano y el tiempo de uso inmediatamente previo del equipo. Se observó que si la posición de la superficie de la muestra no coincidı́a con el plano de difracción, habı́a un corrimiento angular de los picos, y una disminución de las cuentas en los mismos. Se determinó la presencia de textura en una de las muestras, y se observó que era conveniente rotarla continuamente para mejorar la estadı́stica. Además, se determinó que era necesario encender el equipo aproximadamente 50 min antes de comenzar a medir. De lo contrario, se observa un corrimiento de los picos  hacia ángulos menores. Finalmente, y como aplicación, se  compararon los difractogramas de diferentes cacaos comerciales, manteca de cacao y azúcar. Se determinó la presencia de azúcar en los cacaos comerciales, y su ausencia en la manteca de cacao y en el cacao ?puro?.