FUNCIÓN DISTRIBUCIÓN DE PARES ATÓMICOS: APLICACIÓN EN NANOPARTÍCULAS

MARTIN E SALETA; BETIANA N.PIANCIOLA; A. PICCO; ENIO LIMA JR; F. ALVES-LIMA

Encuentro; XVII Encuentro de Superficies y Materiales Nanoestructurados ? NANO 2017; 2017

El análisis de los datos de dispersión total de rayos X (X-ray total scattering) mediante la técnica de función distribución de pares atómico (PDF) es una herramienta de caracterización alternativa en la ciencia de materiales. [1] El método PDF proporciona información estructural directamente en el espacioreal. Esta potente técnica aporta información de orden local y de mediano alcance y permite detectar pequeñas distorsiones que no son detectadas en los estudios convencionales de difracción de rayos X (XRD), ya que los picos de Bragg sólo reflejan la información sobre la estructura promedio. Este análisis se ha utilizado para estudiar fases amorfas de materiales, donde el patrón XRD contiene picos de Bragg anchos y de baja intensidad. Asimismo, ha sido útil en el estudio estructural de nanomateriales donde el tamaño característico del material estudiado limita el correcto análisis por XRD convencional. Paraobtener buenos datos de dispersión total de rayos X para ser estudiados por PDF es necesario: (i) alcanzar una valor de transferencia de momento grande (Q), preferiblemente superior a 20 Å-1; (ii) alta resolución en Q y buenas estadísticas para altos valores de Q; y, (iii) utilizar instrumentos con bajo ruido de fondo, ya que los datos necesitan tener una mejor relación señal / ruido que para el refinamiento de Rietveld. Todas estas recomendaciones experimentales se pueden obtener fácilmente en la línea de luz XDS del Laboratorio Nacional de Luz Sinctrotron (Campinas (SP), Brasil). En este trabajo presentamos el análisis PDF de nanopartículas de plata y de CoFe2O4 de diferente tamaño. Nuestra investigación en PDF se centra en la determinación de la estructura de NPs, que no puede ser realizada correctamente por el análisis deRietveld convencional.