Radiografía con microhaces de partículas: Desarrollo de la técnica

H. SOMACAL; A. BURLON; M. DEBRAY; A. KREINER; J. KESQUE; D. MINSKY

Bahía Blanca, Argentina. Presentación mural

Congreso; 89 Reunión Nacional de Física - Asociación Física Argentina; 2004

Asociación Física Argentina, Filial Bahía Blanca

Las técnicas de PIXE y STIM utilizadas actualmente en linea del microhaz del Laboratorio Tandar consisten en la deteccién de rayos X inducidos en las muestras, la primera y en la detección de los iones transmitidos a través de las mismas, la segunda. PIXE es óptima en análisis multielemental y STIM en información densitométrica, ambas con resolución espacial micrométrica. La caracterización cuantitativa de elementos trazas implica el uso de ambas técnicas, requiriendo dos experimentos independientes, presentando un inconveniente ya que el requerimiento en corriente de iones es incompatible con mediciones simultaneas. Para PIXE se requieren altas corrientes para aumentar la produccion de rayos X y en STIM muy bajas, para no dañar el detector de barrera de superficie usado en la detección de los iones transmitidos. En este trabajo se presenta el desarrollo de una nueva técnica densitometrica, que permitiria en un solo experimento medir la densidad y realizar el analisis multielemental utilizando un único detector. La técnica consiste en analizar radiografías de las muestras, utilizando un blanco secundario, colocado detrás de la muestra, como fuente secundaria de rayos X. El impacto del haz en el blanco secundario produce rayos X inducidos que se detectan conjuntamente con los producidos en la propia muestra. Eligiendo convenientemente el blanco secundario, es posible discriminar las energias de los rayos X e identificar el origen. De esta manera, el mapa producido con los rayos X provenientes del blanco secundario corresponden a la absorción producida al atravesar la muestra en estudio, aportando información densitométrica. Se presentan los primeros resultados experimentales y análisis de los mismos.