Técnica radiográfica con microhaces de partículas

J. MUSCIO; H. SOMACAL; A. BURLON; M.E. DEBRAY; A.J. KREINER; J. KESQUE; D.M. MINSKY; A.A. VALDA

La Plata, Buenos Aires. Presentación mural

Congreso; 90 Reunión Nacional de Física; 2005

Asociación Física Argentina – Filial La Plata

Un gran número de técnicas analíticas se han desarrollado utilizando microhaces de iones pesados, en particular las técnicas PIXE (Particle-Induced X-Ray Emission) y STIM (Scanning Transmission Ion Microscopy). La primera de éstas permite realizar análisis multielementales de muestras y la segunda proporciona información densitométrica; ambas con resolución espacial micrométrica. Para caracterizar cuantitativamente elementos traza es necesario combinar ambas técnicas. Esto representa un contratiempo porque requiere dos experimentos independientes por cada muestra. PIXE requiere de altas corrientes de iones para aumentar la producción de rayos X inducidos, mientras que STIM requiere de bajas corrientes para no dañar el detector de silicio de barrera de superficie. En este trabajo se presenta una nueva técnica para realizar análisis densitom étrico y multielemental de muestras al mismo tiempo, utilizando solamente un detector. ésta consiste en el análisis simultáneo de los rayos X inducidos en la muestra y sus propias radiografías producidas por una fuente de rayos X inducidos en un blanco secundario, colocado detrás de la muestra. Seleccionando convenientemente el blanco secundario, es posible distinguir las dos fuentes. Con el objeto de realizar esta selección se han estudiado diferentes configuraciones de blancos secundarios por medio de simulaciones por computadora. En este trabajo se presentan dichas simulaciones y recientes resultados experimentales, obtenidos con la microsonda de iones pesados del Acelerador Tandar de la CNEA.