Efecto de las condiciones de contorno sobre la resistividad de películas delgadas de Cr

E. KAUL; H. PASTORIZA; E. OSQUIGUIL

Montevideo

Congreso; Reunión Anual de la Asociación de Física Argentina; 2011

Asociación de Física Argentina

Hemos medido la resistividad eléctrica, ρ, de películas delgadas epitaxiales de Cr crecidas sobre sustratos monocristalinos de MgO (100), como función de la temperatura, T, y el campo magnético, H. Nuestros resultados muestran un comportamiento histerético de ρ(T) para ciertos espesores, el cual es robusto aun en campos magnéticos de 16T. Este comportamiento puede ser explicado por el confinamiento de ondas de densidad de spin cuantificadas en el espesor de la película de Cr. Mostramos experimentalmente que la temperatura a la cual ocurre la histéresis (que está relacionada con la diferencia en energías entre ondas de densidad de spin con N ó N+1 nodos) depende linealmente con el espesor de las películas delgadas, esto es TN , N +1 = α + β ⋅ d , donde d es el espesor de la película. La pendiente β depende fuertemente de las condiciones de contorno en las superficies de las películas de Cr.