Dependencia con el espesor de la constante dieléctrica, constante de amortiguamiento y frecuencia de plasma de películas ultradelgadas de Ag.

LUIS JOAQUIN MENDOZA HERRERA; MYRIAM C. TEBALDI; DANIEL C. SCHINCA; LUCÍA B. SCAFFARDI

Encuentro; Nano2022; 2022

En este trabajo se aplica un método desarrollado en nuestro grupo basado en el modelo de Drude para determinar por primera vez una expresión para la dependencia de la constantede amortiguamiento y la frecuencia del plasma con el espesor de la película (Figura 1), tomando los valores experimentales del índice de refracción de películas delgadas de Ag para variosespesores medidos por Zhao et al. Finalmente se calcula la función dieléctrica compleja de Ag para diferentes espesores (d) de film.