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El estudio del óxido de circonio (ZrO2), ha sido y es un tema muy activo de investigación debido a las propiedades únicas que presenta este material, lo cual lo ha llevado a formar parte en una amplia gama de aplicaciones. Por sus propiedades, el ZrO2 es considerado uno de los cerámicos más prometedores para ser usado como material funcional y estructural [1,2]. Una de las posibles aplicaciones debido a su resistencia mecánica es como recubrimiento superficial de aleaciones de Zr utilizadas en vainas de combustibles y separadores en reactores nucleares que requieren ser eléctricamente aislados para pruebas de Flujo Crítico de Calor (simulación del comportamiento termohidráulico de los elementos combustibles nucleares). En este trabajo analizamos películas delgadas de ZrO2 sintetizadas por el método sol gel y depositadas por dip-coating sobre vidrio. La caracterización se realizó mediante espectroscopia UV-ViS-NIR, Perfilometría Óptica y Microscopías AFM y MEB para caracterizar el espesor y la rugosidad de la superficie. Encontramos que la transmitancia normalizada T/T0 está caracterizada por oscilaciones de interferencia y un leve decaimiento de su valor medio para longitudes de onda λ más cortas. Este leve decaimiento no puede explicarse desde las propiedades dieléctricas del ZrO2 [3] y se suele adicionar una pequeña parte imaginaria al índice de refracción como parámetro de ajuste de las pérdidas de energía, siendo imposible por lo tanto determinar su origen. Implementamos el modelo de matriz de transmisión incorporando una matriz característica [4] para considerar la rugosidad de la interfase bajo la aproximación de pendiente de bajo ángulo y parámetro de ajuste la raíz cuadrada de la desviación cuadrática media (rms). La figura 1 muestra T/T0 para una película de ZrO2 (Exp) y los ajustes obtenido con un espesor de 160 nm para rms=0 y rms=9nm.

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