INVESTIGADORES
RUANO SANDOVAL Gustavo Daniel
congresos y reuniones científicas
Título:
Estudio por espectroscopía electrónica de películas de silicio poroso nanoestructurado
Autor/es:
G. D. RUANO; J FERRÓN; R. R. KOROPECKI
Lugar:
Santa Fe-Santa Fe
Reunión:
Jornada; 11º Encuentro de Jovenes Investigadores; 2007
Institución organizadora:
Universidad Nacional del Litoral
Resumen:
El silicio poroso (SP) es en esencia silicio elemental (dopado con impurezas) cuya estructura seha modificado a escala manométrica de modo que resulta un esqueleto nanocristalino con una red de poros. Como resultado de esta modificación el SP presenta propiedades fisicoquímicas distintas al del silicio masivo. En particular, su superficie especifica resulta muy grande (alrededor de 500 m2/cm3), lo que le provee la capacidad de reaccionar químicamente o bien de soportar reactivos químicos adsorbidos. En algunos casos el SP luminesce eficientemente debido a fenómenos físicos de naturaleza cuántica, relacionados con la escala de su nanoestructura. Esta característica impulsó fuertemente el trabajo de investigación en la década de 1990 dando la posibilidad adicional al silicio de ser utilizado en dispositivos fotónicos integrados a chips microelectrónicos.
