INVESTIGADORES
VIDAL ricardo Alberto
congresos y reuniones científicas
Título:
Crecimiento, Desorción Térmica y Daño por Irradiación en C60 sobre Cu(111)
Autor/es:
RICARDO A. VIDAL; F. BONETTO; V. QUINTERO RIASCOS; CLAUDIO BONIN; J. FERRÓN
Lugar:
Merlo (San Luis)
Reunión:
Congreso; 100ª Reunión Nacional de la Asociación Física Argentina; 2015
Institución organizadora:
Asociación Física Argentina
Resumen:
El crecimiento de C60 sobre Cu(111) se caracterizó utilizando espectroscopia de electrones Auger (AES) y difracción de electrones de baja energía (LEED). Los resultados de AES indican que el crecimiento se produce capa a capa, al menos para las dos primeras. En el caso de las imágenes LEED, se observa que el conocido patrón con estructura (4x4) [1-2] formado por el C60 sobre Cu(111) desaparece cuando el tiempo de deposición aumenta, indicando que esta estructura cambia completamente. Las mismas técnicas se utilizaron para estudiar la desorción térmica. Mediante AES se comprobó que a 500 K el C60 se desorbe, permaneciendo sobre la superficie una monocapa aún a temperaturas mayores que 900 K. Este comportamiento, tan diferente para la primera monocapa que para la segunda y subsiguientes monocapas es el resultado de las grandes diferencias existentes entre las energías de adsorción C60-C60 y C60-Cu(111). Las técnicas basadas en la dispersión de iones lentos (Low Energy Ion Scattering, LEIS) son ampliamente utilizadas para la caracterización química y estructural de superficies. La técnica tiene una alta sensibilidad superficial, siendo posible detectar fracciones de monocapa utilizando bajas dosis, con un daño mínimo por irradiación. En particular, esto es importante para superficies nanoestructuradas, en donde el daño por irradiación puede ser importante y debe ser cuantificado. Aquí nos proponemos encontrar las condiciones óptimas de irradiación (ion, dosis, energía) para minimizar los daños por irradiación durante la adquisición de espectros de LEIS en películas de C60 depositadas sobre Cu(111).Las películas de C60 fueron depositadas sobre una superficie de Cu(111) por sublimación de C60 desde una celda de Knudsen. Se utilizó espectroscopia de electrones Auger (AES) para estimar el espesor de la película, y la presencia del plasmón característico de los enlaces π en el espectro de EELS, como una medida de su calidad. Para analizar el daño por irradiación se estudió la evolución temporal de los espectros de LEIS al bombardear con H+, He+ y Ar+ para energias de 2, 4 y 8 keV. La evolución del plasmón característico de los enlaces π en el espectro de EELS con la dosis nos dá una idea de la integridad de las moléculas de C60. En forma complementaria se contrastan espectros de AES tomados antes y después del bombardeo para caracterizar la integridad de la muestra.Los resultados obtenidos indican que tanto el H+ como el He+ no producen daño (detectable) alguno a la muestra utilizada en ninguna de las energías analizadas, con dosis de irradiacion típicas de LEIS; mientras que el Argón a 4 KeV y 8 KeV produce daños que se manifiestan en un cambio apreciable del pico correspondiente al plasmón π.