INVESTIGADORES
SCHMIDT javier Alejandro
congresos y reuniones científicas
Título:
Dispositivos Fotónicos de Silicio Poroso Nanoestructurado
Autor/es:
C. SPIES; R. R. KOROPECKI; R. D. ARCE; J. A. SCHMIDT
Lugar:
Villa de Merlo, San Luis
Reunión:
Congreso; 91º Reunión Nacional de Física; 2006
Institución organizadora:
Asociación Física Argentina
Resumen:
La porosidad, y consecuentemente las propiedades ópticas del silicio poroso nanoestructurado pueden modularse para conseguir estructuras fotónicas unidimensionales tales como reflectores de Bragg o microcavidades ópticas, cuyas propiedades ópticas pueden usarse en sensores de gas o bieosensores. Se presentan resultados de un estudio conducente a obtener transductores fotónicos de silicio poroso para sensores de vapor de solventes. Los espectros de reflectancia de diferentes monocapas de silicio poroso obtenidas por anodizado de monocristales de silicio tipo p++ (8-12 mOhm.cm) fueron ajustados mediante un código de cómputo basado en el empleo de un algoritmo genético. A través del mismo se obtuvieron el índice de efracción complejo y el espesor de las películas, lo que permitió establecer correlaciones entre parámetros operacionales de preparación y propiedades ópticas de las monocapas. Los resultados fueron usados para diseñar multicapas con índice de refracción dependiente del espesor, adecuados a las funciones fotónicas deseadas. Para la preparación se usó una fuente de corriente controlada por computadora, y un reactor de teflón con cátodo de platino. Se prepararon reflectores de Bragg y microcavidades centrados en distintas longitudes de onda y con diferentes “gaps” fotónicos, y se comprobó su sensibilidad como sensores fotónicos. Tanto la reflectancia del material como su fotoluminiscencia evolucionan posteriormente a la preparación, esta última en forma fotoinducida. Se confirma nuestro modelo previamente propuesto que reconoce dos mecanismos, uno de los cuales involucra cambios en el gap de confinamiento debidos a foto-oxidación, y otro relacionado con la creación fotoinducida de defectos electrónicos, mediada por fotodifusión de hidrógeno. Se muestra que existe además foto efusión, lo que hace que el proceso sea irreversible. Se presentan resultados de un estudio de estabilización de la reflectancia a través de oxidación controlada.