INVESTIGADORES
BONETTO fernando Jose
congresos y reuniones científicas
Título:
Influencia de los defectos superficiales en el espectro de Ar dispersado por una superficie de Cu(111)
Autor/es:
R. VIDAL; F. BONETTO; J. FERRÓN
Lugar:
Santa Fe, Argentina
Reunión:
Congreso; 104 Reunion de la Asociación Física Argentina; 2019
Resumen:
La espectroscopia de iones dispersados de baja energía (LEIS) esuna técnica que se caracteriza por su alta sensibilidad superficial.Dependiendo de la energía del proyectil y de la geometría experimental puedeproveer información sobre la estructura y composición de la primera capaatómica de una superficie. Debido al rango de energías empleado en LEISgeneralmente un modelo sencillo de colisión elástica binaria entre el proyectily un átomo del blanco es suficiente para estimar las energías de los diferentespicos que aparecen en un espectro de iones o átomos dispersados.            En este trabajopresentamos resultados experimentales de espectros de LEIS obtenidos en ladispersión de  Ar+ (3 keV)incidiendo sobre una superficie de Cu(111) y mostramos, que en determinadascondiciones de incidencia del ion aparecen picos que no pueden ser explicadospor el modelo de la colisión binaria. Para entender estos resultados usamos unasimulación de dinámica molecular (LAMMPS)que  nos permitió estudiar las diferentestrayectorias que contribuyen a la señal de iones (o átomos) dispersados. Concluimosque la presencia de defectos superficiales, tales como islas o escalones,presentes en cualquier superficie real, es crucial para explicar la presenciade determinados picos en el espectro de LEIS o la emisión de átomos del blanco(direct recoils).