Crecimiento, Desorción Térmica y Daño por Irradiación en C60 sobre Cu(111)

R. VIDAL; F. BONETTO; V. QUINTERO; C. BONIN; J. FERRÓN

Merlo, San Luis

Congreso; 100º Reunion nacional de la Asociación Física Argentina; 2015

El crecimiento de C60 sobre Cu(111) es caracterizado utilizandoespectroscopia de electrones Auger (AES) e imágenes con difracción deelectrones de baja energía (LEED). Los resultados arrojados por lacaracterización con AES indican que el crecimiento se produce capa tras capa almenos en las dos primeras. Los tiempos de formación de las monocapas difierenentre la primera y segunda mostrando la dependencia del recubrimiento con elcoeficiente de pegado. En el caso de las imágenes LEED, en estas se observa queel conocido patrón con estructura (4x4) [1-2] formado por el C60sobre Cu(111) desaparece cuando el tiempo de deposición aumenta, indicando queesta estructura cambia completamente. Las mismas técnicas se utilizaron para estudiar también la desorcióntérmica. Aquí, los resultados de AES muestran que el proceso de desorción de C60es completamente diferente para la primera monocapa que para la segunda ysubsiguientes monocapas. Este resultado es consecuencia de las  grandes diferencias existentes entre lasenergías de adsorción C60-C60 y C60-Cu(111).El correspondiente estudio con LEED se encuentra todavía en progreso.  Por otro lado, las técnicas basadas en ladispersión de iones lentos (Low Energy Ion Scattering, LEIS) son ampliamenteutilizadas para la caracterización química y estructural de superficies. Latécnica tiene una alta sensibilidad superficial, siendo posible detectarfracciones de monocapa utilizando bajas dosis, con un daño mínimo porirradiación. En particular, esto es importante para superficiesnanoestructuradas, en donde el daño por irradiación puede ser importante y debeser cuantificado. Aquí nos proponemos encontrar las condiciones óptimas deirradiación (ion, dosis, energía) para minimizar los daños por irradiacióndurante la adquisición de espectros de LEIS en películas de C60depositadas sobre Cu(111). Laspelículas de C60 fueron depositadas sobre una superficie de Cu(111)por sublimación de C60 desde una celda de Knudsen. Se utilizóespectroscopia de electrones Auger (AES) para estimar el espesor de lapelícula, y la presencia del plasmón característico de los enlaces π en elespectro de EELS, como una medida de su calidad.  Para analizar el daño por irradiación se estudió la evolucióntemporal de los espectros de LEIS al bombardear con H+, He+y Ar+ para energias de 2, 4 y 8keV. La evolución del plasmóncaracterístico de los enlaces π en el espectro de EELS con la dosis nos dá unaidea de la integridad de las moléculas de C60. En formacomplementaria se contrastan espectros de AES tomados antes y después delbombardeo para caracterizar la integridad de la muestra.Los resultados obtenidos indican que tanto el H+ comoel He+ no producen daño (detectable) alguno a la muestra utilizadaen ninguna de las energías analizadas, con dosis de irradiacion típicas deLEIS; mientras que el Argón a 4KeV y 8KeV produce daños que se manifiestan en uncambio apreciable del pico correspondiente al plasmón π.