INVESTIGADORES
BONETTO fernando Jose
congresos y reuniones científicas
Título:
Caracterización de películas de C60 depositados sobre Cu(111) mediante espectroscopía de dispersión de iones lentos.
Autor/es:
F. BONETTO; R. VIDAL; C. BONIN; J. FERRÓN
Lugar:
Rio IV
Reunión:
Encuentro; VI Encuentro nacional de Fisica y Quimica de Superficies (VI ENFyQS); 2014
Resumen:
Las técnicas basadas en la dispersión de iones
lentos (Low Energy Ion Scattering, LEIS) son ampliamente utilizadas para la
caracterización química y estructural de superficies. La técnica tiene una alta
sensibilidad superficial, siendo posible detectar fracciones de monocapa
utilizando bajas dosis, con un daño mínimo por irradiación. En particular, esto
es importante para superficies nanoestructuradas, en donde el daño por
irradiación puede ser importante y debe ser cuantificado. Una variante de la
técnica, Direct Recoil Spectroscopy (DRS) ha sido recientemente utilizada para
estudiar el autoensamblado de moléculas orgánicas sobre superficies metálicas
[1].
En este trabajo nos proponemos encontrar las
condiciones óptimas de irradiación (ion, dosis, energía) para minimizar los
daños por irradiación durante la adquisición de espectros de LEIS en películas
de C60 depositadas sobre Cu(111).
Las películas de C60
fueron depositadas sobre una superficie de Cu(111) por sublimación de C60
desde una celda de Knudsen. Se utilizó espectroscopia de electrones Auger (AES)
para estimar el espesor de la película, y la presencia del plasmón característico
de los enlaces π en el espectro de EELS, como una medida de su calidad. En el caso de películas ultradelgadas se
utilizó la técnica de difracción de electrones de baja energía (LEED) para
obtener información de la estructura cristalina de la superficie.
Para analizar el daño por
irradiación se estudió la evolución temporal de los espectros de LEIS al bombardear con H+, He+
y Ar+ en el rango de 1
a 5 keV. La evolución del plasmón característico de los
enlaces π en el espectro de EELS con la dosis nos da una idea de la integridad
de las moléculas de C60.
En
forma complementaria se contrastan tanto espectros de AES como imágenes LEED
tomadas antes y después del bombardeo para caracterizar la integridad de la
muestra.
[1] L.
Salazar Alarcón, J. Jia, A. Carrera, V.A. Esaulov, H. Ascolani, J.E. Gayone, E.A.
Sánchez, O. Grizzi. Direct recoil spectroscopy of adsorbed atoms and self-assembled monolayers
on Cu(001), Vacuum 105 (2014) 80.