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Título:
CARACTERIZACIÓN DE PELÍCULAS ANÓDICAS NANOPOROSAS DE Al1050 POR ESPECTROSCOPÍA DE IMPEDANCIA ELECTROQUÍMICA
Autor/es:
FLORENCIA A. BRUERA; GUSTAVO R. KRAMER; MARÍA L. VERA; AICIA E. ARES
Lugar:
La Plata, Argentina
Reunión:
Otro; 102 ° REUNIÓN DE LA ASOCIACIÓN FÍSICA ARGENTINA. AFA 2017; 2017
Institución organizadora:
Universidad de La Plata
Resumen:
La oxidación anódica del aluminio permite obtener de manera versátil recubrimientos nanoestructurados deóxidos con innovadores diseños y características específicas, según la aplicación que se requiera, siendo fundamentalpara ello su caracterización electroquímica. En este sentido, se espera que una técnica sencilla y económicacomo la Espectroscopia de Impedancia Electroquímica (EIE), determine satisfactoriamente las característicaselectroquímicas de estos recubrimientos de óxidos. En el presente trabajo se utilizó la técnica EIE para caracterizarlas películas nanoestructuradas de óxido de aluminio sintetizadas mediante la técnica de oxidación anódica endos pasos: a) de Al 1050 en solución de ácido oxálico 0,3 M a 20 oC y b) a diferentes voltajes: 30, 40 y 60V. Asimismo, para contrastar los resultados obtenidos por EIE se tomaron micrografías de las películas anódicaspor microscopía electrónica de barrido (MEB). Mediante el análisis de los diagramas de Nysquit y Bode y susrespectivos circuitos equivalentes de ajuste, se encontraron dos contribuciones resistivas y de elemento de faseconstante (CPE) para las películas anódicas obtenidas a 30, 40 y 60 V, además de la resistencia propia delelectrolito utilizado en el ensayo de EIE. Estas contribuciones indican la existencia de una capa porosa (en lainterfaz electrolito-óxido) y una capa barrera asociada al sustrato, mucho más resistiva que la primera. Además,los exponentes empíricos cercanos a 1 asociados a los CPE de la capa porosa determinan un comportamientodel tipo capacitivo. Por otra parte, la película anódica obtenida a 40 V presentó una contribución adicional,compuesta de un CPE y una resistencia, atribuidas a la presencia de defectos superficiales del recubrimientoanódico, posiblemente generados por la presencia de micro aleantes y/o intermetálicos. Estos resultados están deacuerdo con las observaciones MEB, por lo que demuestran que la técnica de EIE sería adecuada para determinarlas características electroquímicas de las películas nanoporosas de óxido de aluminio.