INVESTIGADORES
VALCARCE Maria beatriz
congresos y reuniones científicas
Título:
EFECTO DE IONES FOSFATO, CARBONATO Y CLORUROS SOBRE LA ESTABILIDAD DE LA PELICULA PASIVA SOBRE ACERO DE CONSTRUCCION EN HORMIGON
Autor/es:
TOLOSA E.; M.A. FRONTINI; L. YOHAI; VAZQUEZ M.; M. B. VALCARCE
Lugar:
Bariloche
Reunión:
Congreso; 18° Congreso Internacional de Metalurgia y Materiales CONAMET-SAM; 2018
Institución organizadora:
SAM
Resumen:
En el hormigón, el acero se encuentra pasivo debido al pH altamente alcalino. Sinembargo, al ser el hormigón un material poroso, iones agresivos como los cloruros y eldióxido de carbono atmosférico, pueden difundir hasta alcanzar la superficie del acero ycomprometer su pasividad. En este trabajo se evalúa la eficiencia del ion fosfato comoinhibidor de la corrosión en acero de construcción en solución simuladora de poros a pH9, contaminada con iones cloruros y comparando dos niveles de carbonatación.Se trabaja con una solución débilmente carbonatada con ([HCO3- ] + [CO3-2]) = 0.0315mol L-1 (SDC) o fuertemente carbonatada ([HCO3- ] + [CO3-2]) = 0.315 mol L-1 (SFC). Seevalúa 0.1 mol L-1 NaCl siendo [Cl-]/[OH-]=10000 y 0.1 mol L-1 Na2HPO4 siendo [HPO43-]/[Cl-]=1. Las técnicas utilizadas son: voltametría cíclica, curvas de polarización anódicasy gráficos Mott-Schottky, luego de crecer la película pasiva 24 h al potencial de corrosión(Ecorr).También se realizan ensayos de pérdida de peso. Los productos de corrosión seevalúan mediante espectroscopia Raman.En SDC+Cl- el acero está activo, mientras que en SFC+Cl- el acero se encuentra pasivo.Al incorporar iones fosfato en SDC+Cl-, el metal se pasiva, observándose elennoblecimiento del potencial de corrosión (Ecorr). Esta película pasiva se rompelocalmente al polarizar anódicamente. Cuando se incorporan fosfatos a SFC +Cl- seobserva un incremento del potencial de picado. Luego de 30 dias al Ecorr no se observaataque localizado en presencia de fosfatos, en ambas condiciones. Siempre que el acerose encuentra pasivo, la película superficial se comporta como semiconductor tipo n. Enpresencia de fosfatos, los espectros Raman presentan una banda ancha, centrada en 982cm-1 que podría indicar la incorporación de fosfatos en la película pasiva tanto enSDC+Cl- como en SFC+Cl-.