INVESTIGADORES
VALCARCE Maria beatriz
congresos y reuniones científicas
Título:
Caracterización de las películas superficiales formadas sobre cobre y latón al aluminio en agua potable.
Autor/es:
M.B. VALCARCE; M. VÁZQUEZ; S.R. DE SÁNCHEZ
Lugar:
Bahía Blanca, Argentina
Reunión:
Congreso; XIII Congreso Argentino de Fisicoquímica y Química Inorgánica; 2003
Institución organizadora:
Asociación de Fisicoquímica
Resumen:
Se realizó un estudio comparativo de las películas superficiales formadas sobre cobre y latón al aluminio en agua potable sintética (pH 7.6), cuya composición refleja una composición promedio del agua potable de la ciudad de Mar del Plata. Se emplearon técnicas electroquímicas tales como voltametrías cíclicas y curvas de reducción potenciodinámicas. Las técnicas electroquímicas fueron complementadas con espectros de reflectancia diferencial “in situ” de los óxidos formados a distintos potenciales. Los potenciales de circuito abierto para cobre y latón se estabilizan luego de 2 horas en contacto con la solución en valores de -0.001V y  -0.035V respectivamente. Los resultados indican que sobre cobre la película pasiva crecida a potencial libre luego de 2 hs, esta formada por Cu2O. Las voltametrías cíclicas muestran tres picos catódicos que han sido asignados a la reducción de CuO, Cu2O y especies solubles de Cu(I). El cobre se ataca localizadamente a potenciales más positivos que 0.055V. Sobre latón la película pasiva crecida a potencial libre luego de 2 hs consiste de una combinación de Cu2O y compuestos de Zn(II). Las voltametrías cíclicas de este material muestran dos picos que pueden ser asignados a la reducción de Cu2O y de compuestos de Zn(II). El latón se ataca localizadamente a potenciales más positivos que 0.05V. Las curvas de reducción de las películas crecidas a potencial libre muestran, en términos generales, buena coincidencia entre el numero y posición de los picos asignados en las voltametrías. De la comparación entre las corrientes de los picos de las curvas de reducción potenciodinámicas, surge que la película se reduce con mayor dificultad sobre latón. Se espera confirmar esta tendencia con ensayos de resistencia a la polarización.