INVESTIGADORES
RENDTORFF BIRRER Nicolas Maximiliano
congresos y reuniones científicas
Título:
CUANTIFICACIÓN DE LA FASE NO CRISTALINA DE UN CERÁMICO REFRACTARIO DEL SISTEMA Al2O3-SiO2-ZrO2, POR TRES MÉTODOS BASADOS EN LA DIFRACCIÓN DE RAYOS X.
Autor/es:
M.C. CONCONI; N. RENDTORFF; E. AGLIETTI
Lugar:
Buenos Aires Argentina
Reunión:
Congreso; 9no congreso internacional de metalurgia y materiales SAM-CONAMET 2009; 2009
Institución organizadora:
Departamento Materiales - CAC -CNEA y UNSAM
Resumen:
RESUMENLa relación entre la estructura atómica y las propiedades macroscópicas y comportamientos de un materialconstituyen un objetivo de la ciencia de los materiales, en particular en el diseño y desarrollo de losmateriales cerámicos. Las fases cristalinas y las fases amorfas así como los poros, bordes de granos etc.afectan las propiedades mecánicas y de fractura, la resistencia química, las propiedades eléctricas, etc., delos materiales cerámicos. Estos aspectos estarán ligados a las materias primas y a la ruta de procesamientode dichos materiales.En la Industria del vidrio, si bien existen otros refractarios electrofundidos como los de alúmina utilizadosen la zona de afinación de los canales de los alimentadores de los hornos de fusión, los refractarioselectrofundidos del sistema Al2O3-SiO2-ZrO2 - comúnmente llamados AZS - son probablemente losrefractarios más utilizados en las partes de los hornos de vidrio que están en contacto con el materialfundido.A diferencia de la mayoría de los refractarios, la cantidad y composición de fase vítrea en un AZS esimportante ya que los hace particularmente adecuados para contener vidrio fundido. Su proporcióndefinirá muchas de sus propiedades y comportamientos.En el presente trabajo se presentan y comparan los resultados de la cuantificación de la fase no cristalinade un material AZS comercial por tres métodos distintos basados en la difracción de rayos X.El primer método consiste en la interpolación de la línea de base del difractograma entre lascorrespondientes a sílice amorfa y a cuarzo cristalino. Los otros dos se basan en la aplicación del métodode Rietveld. Uno con agregado de cuarzo (SiO2) como patrón interno bien cristalizado y el otroincorporando al refinamiento la fase vítrea con un modelo estructural que incluye ensanchamiento pordefectos del tamaño cristalino.Los tres métodos mostraron resultados equivalentes (con diferencias menores al 3%) para dos muestrasprovenientes de distintas partidas del mismo material, y demostraron además ser adecuados para lacuantificación de fase amorfa en el sistema estudiado.