INVESTIGADORES
RENDTORFF BIRRER Nicolas Maximiliano
congresos y reuniones científicas
Título:
TÉCNICAS DE ABSORCIÓN DE RAYOS X; POTENCIALIDADES PARA LA CARACTERIZACIÓN DE MATERIALES DE INTERÉS CERÁMICO
Autor/es:
L. ANDRINI; N. RENDTORFF
Lugar:
Ciudad Autónoma de Buenos Aires
Reunión:
Jornada; 1° Jornadas Nacionales de Investigación en Cerámica JONICER 2015; 2015
Institución organizadora:
Asociación Tecnica Argentina de Cerámica ATAC
Resumen:
TÉCNICAS DE ABSORCIÓN DE RAYOS X; POTENCIALIDADES PARA LA CARACTERIZACIÓN DE MATERIALES DE INTERÉS CERÁMICO
Dr. Leandro Andrini a y Dr. Nicolás Rendtorff b
a. Instituto de Físicoquimica Teórica y Aplicada (INIFTA), CCT-La Plata, CONICET.
b. Centro de Tecnología de recursos Minerales y Cerámica (CETMIC), Dto. Química, FCE-UNLP, CCT-La
Plata, CONICET.
andrini@inifta.unlp.edu.ar; rendtorff@cetmic.unlp.edu.ar
Desde los trabajos pioneros de D.E. Sayers, E.A. Stern, y F.W. Lytle [1], conjuntamente
con los desarrollos tecnológicos que permiten construcción de sofisticadas fuentes de luz
sincrotrón, las técnicas de caracterización espectroscópica por absorción de rayos X
(XAS, X-ray Absorption Spectroscopy) han tenido un sostenido crecimiento en su
aplicación para el estudio de diferentes sistemas y estados de la materia.
Las técnicas XAS se dividen, de acuerdo al rango de energía utilizado para la
caracterización del sistema bajo estudio, en XANES (X-ray Absorption Near Edge
Structure) y EXAFS (Extended X-ray Absorption Fine Structure). Ambas técnicas son
complementarias entre sí y de otras técnicas de caracterización tales como difracción de
rayos X, resonancia magnética nuclear, resonancia de spín. La selectividad química
constituye la particularidad que las hace aplicables como sonda local al átomo
absorbente, pudiendo sintonizarse la energía de absorción por elemento que integra un
dado sistema. De esta manera, XANES proporciona información estructural y electrónica
del sistema, en tanto EXAFS proporciona información sólo estructural.
En esta charla mostraremos las potencialidades de XANES para caracterizar, por
ejemplo, la estructura local de los átomos de aluminio en sistemas de aluminosilicatos en
los cuales los átomos de este elemento pueden ocupar sitios tetraédricos u octaédricos,
para sistemas ordenados y amorfos. También mostraremos las potencialidades conjuntas
de XANES+EXAFS para caracterizar sistemas de óxidos de Co. Sobre esta base
discutiremos la aplicabilidad de estas técnicas para la caracterización de sistemas
nineralógicos, geológicos y de interés tecnológico general.
1. D.E. Sayers et al., Phys. Rev. Lett. 27 (1971) 1204. F.W. Lyttle et al., Phys. Rev. B 11 (1975) 4825. E.A
Stern et al., Phys. Rev. B 11 (1975) 4836. F.W. Lyttle et al., Phys. Rev. B 11 (1975) 4825. Lyttle et al., Phys.
Rev. B 15 (1977) 2426, entre otros.