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Como es bien sabido, la forma de las figuras de interferenciaobtenidas por interferómetros de polarización de placasplano paralelas uniaxiales, depende fundamentalmente delos índices de refracción de la placa y del plano de corte.Esto es muy usado en cristalograf´ıa para analizar muestrasincógnitas con métodos empíricos, de los que se obtienenresultados cualitativos. En trabajos anteriores hemos presentadola forma de obtener las figuras de interferencia formadaspor placas plano paralelas uniaxiales. A partir de lasexpresiones analíticas halladas se obtiene la relación entredicha figura y los parámetros característicos de la placa estudiada.En este trabajo se presenta el camino inverso. Estoes, el ajuste de las figuras de interferencia obtenidas experimentalmentecon lo calculado a partir del modelo propuestopara luego extraer los parámetros constitutivos del cristalestudiado en forma cuantitativa.