INVESTIGADORES
IRURZUN isabel Maria
congresos y reuniones científicas
Título:
MECANISMO DE AUTORECUPERACIÓN Y ELECTRO-CREEP-RECOVERY EN GELES DE SILICONA SOMETIDOS A ENSAYOS DE DAÑO ELECTRICO
Autor/es:
L. I. KOVALEVSKI; L. M. SALVATIERRA; P. L. DAMMIG QUIÑA; I. M. IRURZUN; E. E. MOLA
Lugar:
Rosario
Reunión:
Congreso; XVIII Congreso Argentino de Fisicoquímica y Química Inorgánica; 2013
Institución organizadora:
Asociación Argentina de Investigación Fisicoquímica. Universidad Nacional de Rosario
Resumen:
Los ensayos de arborescencia eléctrica (treeing) son empleados con frecuencia para evaluar la propagación del daño en sólidos aislantes. El mismo es causado por la aplicación de un elevado campo eléctrico en una configuración punta-plano de electrodos. Normalmente, la información extraída de estos ensayos se relaciona con la evolución de la geometría fractal de estas estructuras arborescentes en función del tiempo y tensión aplicada, tanto como con el régimen de descargas parciales y fenómenos electroluminiscentes asociados, o la distribución de los tiempos de falla. En geles de siliconas dieléctricos, el material se encuentra levemente reticulado existiendo una fracción de bajo peso molecular (LMW) que actúa como fase líquida plastificante. Estas cualidades son responsables de un fenómeno de autorecuperación del daño denominado self-healing eléctrico, e interesantes fenómenos electro-reológicos.