INVESTIGADORES
IRURZUN isabel Maria
congresos y reuniones científicas
Título:
MECANISMO DE ELECTRO-CREEP-RECOVERY EN UN GEL DE SILICONA DIELÉCTRICO
Autor/es:
L. M. SALVATIERRA; L. I. KOVALEVSKI; P. L. DAMMIG QUIÑA; I. M. IRURZUN; E. E. MOLA; S. DOOD; L. DISSADO
Lugar:
Misiones
Reunión:
Congreso; 13 Congreso Binacional de Metalurgia y Materiales; 2013
Resumen:
Los ensayos de arborescencia eléctrica (treeing) son empleados con frecuencia para evaluar la propagación del daño en sólidos aislantes. En geles de silicona dieléctricos, el material se encuentra levemente reticulado existiendo una fracción de bajo peso molecular (LMW) que actúa como fase líquida plastificante. Estas cualidades son responsables de un fenómeno de autorecuperación del daño denominado self-healing eléctrico, e interesantes fenómenos electro-reológicos. El fenómeno de autorecuperación se evidenció en la contracción y desaparición de filamentos y cavidades desarrolladas por descargas parciales en las zonas de crecimiento de la estructura arborescente. Se encontró además que los árboles eléctricos están sometidos aun estiramiento mientras se encuentra el campo eléctrico aplicado, y esta deformación recupera y revierte cuando se retira el mismo. Se aplicaron funciones escalón de estrés (tensión) y se observó la evolución de la deformación en el tiempo tanto para la respuesta en creep como de recovery a distintos voltajes. La respuesta de la deformación interna de filamentos mediante electro-creep-recovery es dependiente no sólo de la tensión (estrés) aplicado externamente, sino de la carga electrostática efectiva depositada en los filamentos del árbol deformado y del daño eléctrico acumulativo por las descargas sobre las paredes de los mismos.