Microscopía de Fuerza Atómica: investigando a nanoescala

CAROT, M. LUCRECIA

Seminario; Ciclo de seminarios del Instituto de Investigaciones en Fisicoquímica de Córdoba (INFIQC-CONICET-UNC); 2023

Microscopía de Fuerza Atómica: Investigando a Nanoescala En los 80’, una nueva familia de microscopias revolucionó la ciencia superficial. Con las microscopías de sonda de barrido (Scanning Probe Microscopies, SPMs) no sólo fue posible observar la materia a nanoescala -que ya se había logrado con el microscopio electrónico- sino también estructurar y manipular nanoscópicamente la materia. Para toda la familia de las SPMs el principio básico es el mismo: una sonda barre la superficie de una muestra (monitoreando las interacciones punta-muestra) y se logra así obtener la topografía superficial. Dependiendo del tipo de interacción o señal que se detecta, deriva cada una de las técnicas de esta gran familia. En el caso particular de la microscopía de fuerza atómica (Atomic Force Microscopy, AFM), se utilizan las fuerzas intermoleculares que se establecen entre la sonda y la superficie para obtener información topográfica y otras propiedades físicas de la muestra analizada. En este seminario abordaremos aspectos relevantes sobre la técnica de AFM, tales como fundamentos básicos, modos de operación, tipos de muestras que se pueden estudiar y su preparación, datos que se pueden obtener del sistema, alcances y limitaciones.