PERSONAL DE APOYO
TARTALINI Vanina Mercedes
congresos y reuniones científicas
Título:
"Estudio comparativo de Observaciones de Muestras Biológicas en Microscopía Electrónica de Barrido en sus tres modos de trabajo: Alto Vacío, Bajo Vacío y Modo Ambiental"
Autor/es:
TARTALINI, VANINA; RISSO, PABLO; DÍAZ, PABLO; ÁVALOS, MARTINA; BOLMARO, RAÚL
Lugar:
Rosario
Reunión:
Congreso; XXI Congreso Argentino de Histotecnología; 2013
Institución organizadora:
Sociedad Argentina de Histotecnología
Resumen:
Objetivos: El objetivo es comparar calidad de observaciones de diferentes tejidos de origen biológico realizadas en los modos de trabajo que ofrece un Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) actual. Específicamente, se establecerá el modo de trabajo más adecuado dependiendo de las características del tejido y de los aspectos a analizar.   Material y Métodos: Las muestras fueron preparadas de acuerdo a protocolos ya establecidos en la literatura relativa al tema. Se trabajó con un SEM FEI Quanta 200F en sus tres modos de operación: Alto Vacío (HV), Bajo Vacío (LV) y Modo Ambiental (ESEM).En el modo HV, se reduce al máximo el número de partículas dentro de la cámara minimizando la probabilidad de dispersión de electrones, mejorando así la resolución hasta 2-3 nanómetros.Los modos LV y ESEM facilitan la observación de muestras no conductoras mediante mecanismos de reducción de carga electrónica sobre las mismas. Al incrementar la presión de la cámara, con respecto a la condición de bajo vacío, se aumenta el número de partículas alrededor de la muestra lo que ocasiona una dispersión del haz de electrones que reduce la resolución de la observación.En los casos en los que fue necesario recubrir las muestras se utilizó un Sputter Emitech SC 7640.Las imágenes obtenidas por microscopía electrónica fueron contrastadas con imágenes obtenidas por microscopía convencional para lo cual se utilizaron microscopios ópticos Olympus: GX51 de platina invertida y BX41.   Resultados y Discusión: Se discutirá a partir de las imágenes obtenidas por microscopía electrónica la importancia de una adecuada elección en el modo de observación. El protocolo de preparación de una muestra para su observación en microscopia electrónica debe ser elegido teniendo en cuenta el modo en el cual se va a operar el microscopio. Cada modo de trabajo tiene ventajas que lo hacen único: en HV es su resolución, en LV es la posibilidad de observar muestras sin recubrimiento y en modo ESEM la viabilidad para la observación de estructuras de tejido blando con protocolos de preparación básicos que implican no solo bajos costos de insumos para su preparación si no una mínima intervención en la muestra.