El uso de parámetros de calidad de EBSD en la separación de fases en materiales multifásicos

BOLMARO, RAÚL; SIGNORELLI, JAVIER; SCHWINDT, CLAUDIO; TARTALINI, VANINA; RISSO, PABLO; ÁVALOS, MARTINA

ACTA MICROSCOPICA

CIASEM

Lugar: Buenos Aires; Año: 2016

0798-4545

La técnica de Electron Back Scattering Diffraction necesita de diversos parámetros de calidad para evaluar la calidad, corrección y confiabilidad de los resultados obtenidos. Los mismos proveen varios tipos de evaluación de la corrección de las determinaciones de las orientaciones efectuadas por medio de la indexación de los patrones de Kikuchi, siendo calculados en sus diversos estadios: detección de los patrones de Kikuchi, cálculo en el espacio de Hough e indexación del patrón. Una discusión extensa se puede encontrar en Pinard et al. [1]. El índice de calidad (IQ, por sus siglas en inglés) mide el contraste de las imágenes colectadas en la pantalla fluorescente o de su transformada de Hough y la consecuente posibilidad de obtener una buena indexación de los patrones. El índice de confianza (CI, ídem) mide la corrección relativa de las diferentes opciones de indexación halladas por el software, permitiendo adoptar la de mayor CI como la correcta. El parámetro ?Fit? mide la diferencia angular promedio entre las líneas del patrón experimental y el calculado. Estos parámetros, o similares, están implementados en la mayoría de los programas comerciales de EBSD.