INVESTIGADORES
FARFAN Fernando Daniel
congresos y reuniones científicas
Título:
EVALUACION DE PATRONES ELECTROMIOGRAFICOS PARA EL CONTROL MIOELECTRICO
Autor/es:
FERNANDO DANIEL FARFÁN; JULIO CESAR POLITTI; CARMELO JOSÉ FELICE
Lugar:
San Salvador de Jujuy - Jujuy
Reunión:
Jornada; I Jornadas de Ingeniería del NOA; 2005
Institución organizadora:
Universidad Nacional de Jujuy
Resumen:
En dispositivos controlados por actividad eléctrica muscular, tales como prótesis y ortesis dinámicas, la señal de control (el electromiograma, EMG) tiene ciertas características propias de las señales biológicas, tales como: no estacionalidad, baja relación señal ruido y variaciones en sus características temporales cuando se quitan y reponen los electrodos. Debido a ello se requieren técnicas especiales de procesamiento digital para su análisis. En este trabajo hemos evaluado técnicas de procesamiento temporales (valor RMS, valor absoluto medio (VAM), valor de la varianza (VAR) y valor absoluto medio de la diferencia (VAMD)) y paramétricas (modelos auto regresivos (AR) y la determinación de los coeficientes cepstrales (CEP)) para analizar el comportamiento del EMG durante contracciones dinámicas. El EMG fue registrado en el deltoides medio. Las contracciones musculares fueron producidas por movimientos de abducción y adducción del brazo en forma dinámica. Se analizó el comportamiento de los diferentes parámetros, obtenidos de los métodos de procesamiento, cuando se varió la distancia entre los electrodos de registro y cuando se realizaron los movimientos con cargas externas (diferentes pesas). Los parámetros temporales VAM, RMS, VAR y VAMD obtenidos presentan diferencias entre los movimientos de abducción y adducción. Sus valores medios crecen cuando la contracción aumenta. Este  aumento es lineal en función de la posición del brazo. Los coeficientes determinados a partir de modelos paramétricos (AR y CEP) mostraron diferencias entre los movimientos de abducción y adducción en el rango de 0º a 30º. La variación de la distancia entre electrodos de registro provoca aumentos en  las dispersiones de los VAM al igual que el aumento del peso durante los movimientos de abducción y adducción.