INVESTIGADORES
VARELA Maria Eugenia
congresos y reuniones científicas
Título:
PREPARACIÓN DE LÁMINAS DELGADAS POR FOCUSED ION BEAM PARA MICROSCOPÍA DE TRANSMISIÓN
Autor/es:
GRANELL P.; GIORDANA F.; MORENO M.F.; ZELAYA E.; VARELA M.E.; HABERKORN N.; CONDÓ A.; GOLMAR F.
Lugar:
Bariloche
Reunión:
Congreso; Congreso de la Asociación Argentina de Microscopia; 2016
Resumen:
El microscopio de doble haz FIB/SEM (Focused Ion Beam/Scanning Electron Microscope) es una herramienta fundamental para la ciencia de materiales que permite caracterizar virtualmente cualquier tipo de material en la nanoescala, incluyendo materiales bulk, películas delgadas y nanopartículas. En este trabajo se describe el proceso de preparación de láminas delgadas (lamellas) utilizando el microscopio de doble haz, y se mencionan tres ejemplos de muestras preparadas por esta técnica que pudieron ser caracterizadas con éxito por microscopía de transmisión.
