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Fe-Mn-Si Las aleaciones con memoria de la forma basadas en Fe-Mn-Si sufren transformaciones de fase inducidas por deformación que se presentan difíciles de analizar tanto en cuanto a fracciones de volumen y componentes de textura como en composición de variantes y desarrollo nano-microestructural. Los métodos experimentales usuales pueden, en el mejor de los casos, evaluar parcialmente estas magnitudes y su relación con las propiedades mecánicas en estados previos y posteriores a las transformaciones termomecánicas. Modificaciones micro-estructurales superficiales y sub-superficiales, debido al corte y pulido de la preparación, pueden también esconder o disfrazar la evolución en volumen. La radiación sincrotrón tiene muchas ventajas como herramienta de caracterización en varios aspectos. En primer lugar permite estudios in-situ durante procesos de carga y descarga gracias a su rápida capacidad de muestreo. En segundo lugar, su gran penetración permite mediciones en el volumen y hacer despreciables las influencias de los fenómenos superficiales. Como contraparte, los datos son generalmente sobreabundantes y laboriosos de procesar, analizar e interpretar. Se presentan resultados de difracción de rayos X obtenidos en la linea GEMS out-station en Petra III, DESY, Germany, durante la aplicación de tensiones crecientes de tracción y sucesivas descargas. La máquina de tracción fue montada directamente en el haz y placas de imágenes de Debye-Scherrer en transmisión se tomaron en cada paso con una placa MAR3450, 3450 x 3450 pixels de 100m x 100m. En cada estado de carga un conjunto completo de medidas de 37 imágenes permiten calcular la textura, fracciones de volumen y evolución microstructural. Después de cada descarga se captura una imágen única para seguir los principales efectos de la descarga. Los resultados fueron analizados usando el software MAUD, mediante el cual se pueden obtener la evolución de fracciones de volumen de cada fase, texturas y microestructuras. Ex-situ se procedió a efectuar experimentos de barrido por la técnica de Electron Back Scattering Diffraction (EBSD) con el objetivo de caracterizar la topología, microtextura y correlación orientacional que no es accesible por técnicas de rayos X.

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