Determinación de Parámetros Microestructurales del Acero Inoxidable F138 por Diferentes Métodos a Partir de Datos de Difracción de Rayos X de Alta Energía

EMANUEL BENATTI; BOLMARO, RAÚL E.; V. L . SORDI; A.M. KLIAUGA; NATALIA S. DE VINCENTIS; MARTINA AVALOS; H.-G. BROKMEIER

Mar del PLata

Taller; III Taller de la Asociación Argentina de Cristalografía; 2014

AACr

es fuertemente dependiente de la orientación de los granos además de la cristalografía, el tipo de aleación considerada, el proceso de deformación, etc.. La literatura ofrece algunos ejemplos de esa acumulación anisostrópica [1, 2], aunque la evaluación cuantitativa de tal almacenamiento de energía en materiales sometidos a deformación plástica severa (SPD) dista mucho de contar con modelos universalmente aceptados. Los experimentos de difracción de rayos X (XRD) constituyen una de las herramientas estándar para estudiar la microestructura de los materiales y los llevados a cabo con luz de sincrotrón son especialmente eficaces en la generación de gran cantidad de datos de los que es posible extraer información de varios parámetros microestructurales. Varios programas implementan modelos que realizan análisis microestructurales a partir de patrones de XRD, como por ejemplo Fullprof [3], pero todos experimentan diversos tipos de problemas cuando se los quiere utilizar para realizar un análisis masivo de datos. Otra crítica que se realiza a este tipo de programas es que utilizan los parámetros de funciones analíticas (en general combinaciones de funciones Lorentzianas y/o Gaussianas) para estimar el valor de los parámetros microestructurales, en vez de utilizar modelos físicos para intentar predecir el efecto que los diferentes tipos de defectos de un material pueden tener en la forma de los picos de un difractograma. En este sentido, el análisis por convolución de patrón completo (CMWP, por sus siglas en inglés), se presenta como una alternativa para obtener estimaciones de diferentes parámetros microestructurales a partir de modelos físicos bien definidos de la forma de los dominios de difracción y su distribución de tamaño, así como de la densidad y carácter de las dislocaciones acumuladas en el material [4, 5]. En este trabajo se presentan los resultados de un programa desarrollado específicamente para realizar análisis microestructutal a partir de los miles de difractogramas que surgen de un experimento de XRD de sincrotrón, y se comparan los resultados obtenidos de realizar un análisis a partir de funciones analíticas y de los obtenidos utilizando el CMWP. En particular, se muestran figuras de polos y figuras de polos generalizadas de ancho de pico, tensión acumulada, tamaño de grano y densidad de dislocaciones de chapas laminadas de acero inoxidable F138, irradiadas con luz del sincrotrón en Petra III DESY, en Hamburgo, Alemania.