INVESTIGADORES
BOLMARO Raul Eduardo
congresos y reuniones científicas
Título:
Estudio de la nanoestructura desarrollada en aluminio por deformación plástica severa
Autor/es:
BOLMARO, RAÚL E.; V SORDI,; ANDREA KLIAUGA; NATALIA S. DE VINCENTIS; EMANUEL BENATTI; M. C. AVALOS; FRANCISCO CRUZ GANDARILLA; H.-G. BROKMEIER
Lugar:
Córdoba
Reunión:
Congreso; I Reunión Latinoamericana de Cristalografía ‐ IX Reunión Anual de la AACr; 2013
Institución organizadora:
AACr
Resumen:
Las propiedades de volumen de un material son fundamentalmente dictadas por su composición y, en segundo lugar, por la
microestructura. La misma depende sustancialmente del método de fabricación. Metodologías de fabricación complejas pueden
producir casi cualquier microestructura imaginable. Sin embargo las mismas pueden ser difíciles de producir tanto en cuanto al
tiempo necesario como a la energía o el costo. La búsqueda de métodos de fabricación similares a los que se encuentran en
uso industrialmente pero con efectos profundos en la microestructura y las propiedades es una de las posibilidades que ofrece
la deformación plástica severa. La obtención de materiales nanoestructurados tiene como objetivo conseguir propiedades
fundamentalmente producto de la existencia de volúmenes desordenados en una fracción mayor y nanoestructuras más
controladas que en los materiales tradicionales.
Las técnicas de Deformación Plástica Severa (SPD) más comunes, como ECAE, HTP y ARB adolecen de dificultades de
implementación tecnológica a gran escala debido simplemente a causas geométricas y dimensionales. Una técnica sugerida
para superar esas limitaciones es la laminación asimétrica (AR), mediante la cual un gran porcentaje de deformación de corte
debería poder inducirse en una chapa de metal. El proceso resulta útil para la inducción de deformaciones plásticas severas en
un aluminio 1050A, con un mínimo cambio de sección transversal de la chapa. La deformación total es calculada a partir de
mediciones sobre marcadores externos y las consecuencias sobre la textura y las propiedades mecánicas son medidas por
rayos X y ensayos de tensión estándar. El estudio cuantitativo de materiales nanoestructurados puede efectuarse por medio de
difracción de rayos X y, especialmente, por luz sincrotrón. Se mostrarán las técnicas más usuales de análisis de rayos X para la
determinación de defectos estructurales como arreglos de dislocaciones, tamaños de dominios, maclas y fallas de apilamiento.