Caracterización de Materiales con un Microscopio Electrónico de Transmisión con Cañón de Emisión de Campo

A. TOLLEY; A. CONDO; E. ZELAYA; A. GERACI; F. LOVEY

Mar del Plata

Congreso; X Reunión de la Asociación Argentina de Cristalografía; 2014

Asociación Argentina de Cristalografía

Recientemente se ha instalado un nuevo microscopio electrónico de transmisión en el Centro Atómico Bariloche, modelo Tecnai F20, el cual cuenta con un cañón de emisión de campo. Si bien este tipo de microscopios están en uso desde fines de la década del 90, éste es el primero de la Argentina. En comparación con un cañón de emisión termoiónica, el cañón de emisión de campo permite obtener imágenes de resolución atómica de mayor calidad en el modo de alta resolución, y mejora significativamente la resolución espacial para técnicas microanalíticas. El microscopio cuenta también con un detector anular de alto ángulo (HAADF) que permite obtener imágenes de campo oscuro en modo de barrido (STEM) con contraste de número atómico, alcanzando una resolución cercana a los 0,14 nm. Además cuenta con un detector de rayos X de tipo Silicon Drift (SDD) con refrigeración Peltier para estudios microanalíticos. Finalmente se incorporará hacia fines de este año un filtro de energía para realizar espectroscopía por pérdida de energía (EELS) y mapeos de composición. En esta presentación se ilustrará el potencial que el microscopio Tecnai F20 brinda para la caracterización de materiales mediante ejemplos en sistemas de nanopartículas (figura 1), y de aleaciones metálicas (figura 2). Figura 1. Imágenes de nanopartículas de plata [1]: izq. a der.: campo claro, campo oscuro anular en modo barrido (HAADF-STEM), alta resolución. Figura 2. Izq. a der.: campo oscuro anular: distribución de granos y dislocaciones en Zr-2,5Nb; campo claro anular: precipitados en Al-Mg-Si; alta resolución de un precipitado en Al-Mg-Si.[1] J. V. Maya Girón et al., J. Phys. Chem. C 2013, 117, 24967−2474.