Difracción de electrones de haz convergente: caracterización de materiales a escala submicrométrica.

TOLLEY, ALFREDO JUAN; ADRIANA CONDÓ,

Mar del Plata

Congreso; Jornadas SAM/CONAMET 2005; 2005

Asociación Argentina de Materiales

En un microscopio electrónico de transmisión, la intensidad transmitida o difractada presenta grandes variaciones de intensidad como función del ángulo de incidencia. Estas variaciones se ponen de manifiesto en los patrones de difracción obtenidos con un haz de electrones que incide en forma convergente sobre una muestra cristalina. El análisis de estos patrones permite extraer información sobre la estructura cristalina y los defectos correspondientes a la zona iluminada por el haz de electrones, que puede ser tan pequeña como unos pocos nanómetros. En este trabajo se describirán las técnicas experimentales por las cuales se producen patrones de difracción de haz convergente en un microscopio electrónico de transmisión, y se ilustrará el uso de estos patrones para la determinación del espesor local de una lámina delgada y la determinación de parámetros de red locales, con ejemplos. Se describirá también el uso de patrones de difracción de haz convergente para determinar el grupo puntual de simetría de muestras cristalinas y para reconocer elementos de simetría adicionales que brindan información sobre el grupo espacial. Finalmente se mostrará un ejemplo de la determinación del vector de Burgers de dislocaciones.