INVESTIGADORES
URTEAGA Raul
congresos y reuniones científicas
Título:
Depósito y caracterización de películas de ZnO:Al como capa antirreflectante para su aplicación en celdas solares de silicio policristalino
Autor/es:
FERMÍN MORA; ROMAN BUITRAGO; RAÚL URTEAGA; H. JUAREZ
Reunión:
Congreso; 96a Reunión Nacional de la Asociación Física Argentina; 2010
Institución organizadora:
Asociación Física Argentina
Resumen:
En el desarrollo
de nuevas tecnologías de película delgada de silicio policristalino para la
producción
de celdas
solares, la captación de la energía solar incidente es un tema de relevancia.
La posibilidad
de lograr
eficiencias mayores al 15% de conversión depende tanto del acople óptico del
material anti-
rreflectante como
del tamaño de grano del silicio. En este trabajo se presentan los primeros
resultados de preparación de laminas antirreflectantes de Óxido de Zinc dopado
con Aluminio (ZnO:Al), depositadas sobre vidrio bajo diferentes condiciones. Se
usó un reactor de pulverizado catódico RF y un blanco cerámico de ZnO:Al2O3
(97.1% : 2.9% en peso). Se obtuvieron muestras con resistencias por cuadro de 100 a 13 Ω y espesores en un
rango de 600-1000 nm. Se realizaron mediciones con un espectrofotómetro UV-Vis
para determinar el factor de textura (Haze), también se caracterizó a las
laminas antes y después de un tratamiento térmico a 600 oC para estimar la
estabilidad térmica de sus propiedades. Los resultados son promisorios; las
láminas de ZnO:Al tienen muy buena conductividad, una textura apropiada de 14%
de Haze a 600 nm de longitud de onda, y sus propiedades electro-ópticas no se
modifican significativamente luego de un recocido a 600 oC de 24 hs. La razón
del recocido es para usar la combinación vidrio-ZnO:Al como capa semilla para
el crecimiento epitaxial de silicio policristalino a 580 oC.
