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Se estudia la sintonizaci´on t´ermica de la resonancia de microcavidades ´opticas de silicio porosodepositadas sobre sustratos de diferentes espesores, con contactos de aluminio evaporados sobre elplano de la microcavidad. Aplicando una corriente a trav´es del contacto se produce calentamiento porefecto Joule y por conducci´on t´ermica se calienta la microcavidad . Como consecuencia la microcavidadse dilata y adem´as var´ıa el ´ındice de refracci´on del silicio. Esto conlleva un cambio de los espesores´opticos en las capas componentes lo que provoca un cambio en la longitud de onda de la resonancia dela microcavidad. Este cambio espectral tambi´en se puede visualizar resolviendo en funci´on del ´angulode incidencia. Se fabricaron tres microcavidades ´opticas de silicio poroso y se midieron las respuestastemporales de la reflectancia a ´angulo fijo, al utilizar distintos valores de corriente a trav´es de los contactos.Se utiliz´o para esto un l´aser monocrom´atico y un fototransistor. Se encontr´o que los tiemposde respuesta de cada muestra dependen del sustrato donde est´a depositada la microcavidad. Los resultadosexperimentales fueron validados con c´alculos num´ericos. Esto permite el uso de este dispositivocomo sensor de temperatura basado en la respuesta ´optica del cristal fot´onico, posibilitando su uso enmediciones remotas.

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