APPLICATION OF XPS TO STUDIES OF Au DIFFUSION IN POLYCRYSTALLINE CdTe FILMS

C. OVIEDO; N. DI LALLA; F. DYMENT

Córdoba

Seminario; Seminario latinoamericano de Análisis por Técnicas de rayos X ( SARX 2004).; 2004

XPS ( X-Ray Photoelectron Spectrometry) no es una técnica convencional para el estudio de difusión. Con el objeto de ampliar su rango de aplicaciones se encaró este trabajo, apoyado en la excelente señal de XPS de los elementos de interés  (Au, Cd y Te) y lña existencia de resultados obtenidas en las mismas muestras con la técnica RBS (Rutherford Backscattering Spectrometry). Los films delgados y policristalinos de CdTe se obtuvieron por electrodeposición sobre una estructura de multicapas y sobre ella se evaporó una capa de Au de aproximadamente 10 nm. Los tratamientos de difusión abarcaron el rango de temperaturas entre 500 y 770 K. Mediante el seguimiento de las señales de Au4f,  Te3d  y Cd3d intercaladas con barridos controlados con iones A+, se determinaron los perfiles de concentración y de ellos se calcularon los coeficientes de difusión de Au en CdTe. Los valores obtenidos están en razonable bien acuerdo con los medidos mediante RBS. Se discuten los alcances y limitaciones de XPS para su aplicación en problemas de difusión.