SINC(I)   25518
INSTITUTO DE INVESTIGACION EN SEÑALES, SISTEMAS E INTELIGENCIA COMPUTACIONAL
Unidad Ejecutora - UE
informe técnico
Título:
Desarrollo de un modelo de deep learning para detección de defectos en frutillas
Autor/es:
L. BUGNON, C. YONES, D.H. MILONE, G. STEGMAYER
Fecha inicio/fin:
2019-03-01/2019-05-31
Naturaleza de la

Producción Tecnológica:
Informática (software)
Campo de Aplicación:
Varios campos
Descripción:
Objetivo:  desarrollo de un modelo computacional de aprendizaje, en particular, basado en deep learning,  para detección de defectos en imágenes de frutillas.Metodología: diseño, desarrollo y entrenamiento por validación cruzada con 10 folds de modelos computacionales de aprendizaje maquinal para la detección, a partir de imágenes de frutillas, de las clases "good", "green", "bruise" and "decay". Técnica: aprendizaje maquinal profundo, red convolutiva de varias capas.