IFIS - LITORAL   24734
INSTITUTO DE FISICA DEL LITORAL
Unidad Ejecutora - UE
congresos y reuniones científicas
Título:
Caracterización de películas de C60 depositados sobre Cu(111) mediante espectroscopía de dispersión de iones lentos
Autor/es:
FERNANDO J. BONETTO; RICARDO VIDAL; CLAUDIO J. BONIN; JULIO FERRÓN
Lugar:
Rio IV
Reunión:
Congreso; VI Encuentro nacional de Física y Química de Superficies (VI ENFyQS); 2014
Resumen:
Las técnicas basadas en la dispersión de iones lentos (Low Energy Ion Scattering, LEIS) son ampliamente utilizadas para la caracterización química y estructural de superficies. La técnica tiene una alta sensibilidad superficial, siendo posible detectar fracciones de monocapa utilizando bajas dosis, con un daño mínimo por irradiación. En particular, esto es importante para superficies nanoestructuradas, en donde el daño por irradiación puede ser importante y debe ser cuantificado. Una variante de la técnica, Direct Recoil Spectroscopy (DRS) ha sido recientemente utilizada para estudiar el autoensamblado de moléculas orgánicas sobre superficies metálicas [1]. En este trabajo nos proponemos encontrar las condiciones óptimas de irradiación (ion, dosis, energía) para minimizar los daños por irradiación durante la adquisición de espectros de LEIS en películas de C60 depositadas sobre Cu(111). Las películas de C60 fueron depositadas sobre una superficie de Cu(111) por sublimación de C60 desde una celda de Knudsen. Se utilizó espectroscopia de electrones Auger (AES) para estimar el espesor de la película, y la presencia del plasmón característico de los enlaces π en el espectro de EELS, como una medida de su calidad. En el caso de películas ultradelgadas se utilizó la técnica de difracción de electrones de baja energía (LEED) para obtener información de la estructura cristalina de la superficie. Para analizar el daño por irradiación se estudió la evolución temporal de los espectros de LEIS al bombardear con H+, He+ y Ar+ en el rango de 1 a 5 keV. La evolución del plasmón característico de los enlaces π en el espectro de EELS con la dosis nos da una idea de la integridad de las moléculas de C60. En forma complementaria se contrastan tanto espectros de AES como imágenes LEED tomadas antes y después del bombardeo para caracterizar la integridad de la muestra. [1] L. Salazar Alarcón, J. Jia, A. Carrera, V.A. Esaulov, H. Ascolani, J.E. Gayone, E.A. Sánchez, O. Grizzi. Direct recoil spectroscopy of adsorbed atoms and self-assembled monolayers on Cu(001), Vacuum 105 (2014) 80.
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