IFIS - LITORAL   24734
INSTITUTO DE FISICA DEL LITORAL
Unidad Ejecutora - UE
congresos y reuniones científicas
Título:
Análisis de la estructura de películas delgadas de ZnO dopadas con Al y Mg mediante difracción de rayos X
Autor/es:
F. A. GARCES; N. BUDINI; R.R. KOROPECKI; R.D. ARCE
Lugar:
Puerto Iguazu
Reunión:
Congreso; XIII Congreso Internacional en Ciencia y Tecnología de Metalurgia y Materiales 2013; 2013
Resumen:
Los óxidos transparentes conductores son materiales ampliamente estudiados para aplicaciones en fotovoltaica y sistemas de sensado. En particular, el ZnO posee excelente transparencia y alta movilidad de electrones. El dopaje de este material altera sus propiedades estructurales y eléctricas. El ZnO:Al se aplica, por ejemplo, en la capa frontal de dispositivos fotovoltaicos y, por otro lado, la creciente investigación sobre ZnO:Mg permitió el desarrollo de nuevas aplicaciones en optoelectrónica. En este trabajo se utilizó la vía sol-gel para obtener los precursores de ZnO intrínseco y dopado. Este procedimiento consiste en hidrolizar y condensar las sales de partida a base de acetatos y cloruros, para luego depositar el material sobre sustratos de vidrio por pirólisis a partir de un spray de la solución. Las películas de ZnO:Al y ZnO:Mg se caracterizaron estructuralmente por difracción de rayos X para determinar la constante de red, la orientación preferencial y mosaicidad de las capas
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