Caracterización mediante espectroscopía de fotoemisión de rayos X (XPS) de sistemas multicapa de películas delgadas de SnO2 dopado con CuO

M. F. BIANCHETTI; M. P. POIASINA; F.S GARD; N. E. WALSÖE DE RECA

Encuentro; Encuentro Anual INN2020; 2020

Instituto de Nanociencia y Nanotecnologia (INN)

En este trabajo presentamos los resultados del análisis de espectroscopía de fotoemisión de rayos X (XPS) de sistemas multicapas formado por películas delgadas de SnO2 dopadas con CuO (5%wt.). Las muestras fueron preparadas y depositadas sobre sustratos de Si, utilizando el método de sol-gel y dip-coating. Las concentraciones y posibles estados de oxidación de los metales (estaño y cobre) en la superficie se obtuvieron del análisis de las posiciones de los niveles 3d-core y 2p-core, respectivamente. El perfil de profundidad se realizó para controlar la relación de concentración de Sn, Cu, y O de las muestras. En las capas de la superficie superior, se ha detectado SnO2 casi estequiométrico, que cambia progresivamente a SnO. El estudio de composición en la vecindad del sustrato de Si y la película delgada, revelaron la presencia de SiO2 y la fase de estaño metálico.