CARACTERIZACIÓN MORFOLÓGICA DE NANOHILOS DE ZnO POR DIFERENTES TÉCNICAS

CLAUDIA D. BOJORGE; EDUARDO A. HEREDIA; NOEMÍ E. WALSÖE DE RECA; HORACIO R. CANEPA

San Luis

Congreso; XII Reunión Anual de la AACr; 2016

Universidad Nacional de San Luis

Los nanohilos de ZnO han sido ampliamente estudiados debido a sus aplicaciones en células solares, sensores de gas, transductores piezoeléctricos, osciladores ultrasónicos y en diferentes aplicaciones optoelectrónicas. En el presente trabajo se obtuvieron nanohilos de ZnO, crecidos por el método hidrotérmico, sobre películas delgadas de Ga:ZnO, con diferente número de capas depositadas. Para la caracterización de los mismos se utilizaron diferentes técnicas. Se comparó la información estructural obtenida de regiones macroscópicas y microscópicas de las muestras, según la técnica empleada.Se realizó Difracción de rayos X (XRD) en el Laboratorio de Difracción de Rayos X, Departamento Física de la Materia Condensada, Gerencia Investigación y Aplicaciones, GAIyANN - CAC ? CNEA. Por medio de XRD en la configuración simétrica de Bragg Brentano se comprobó la formación cristalina del ZnO Todas las muestras presentaron orientación (002). Mediante la ecuación de Scherrer se calculó la dimensión de los cristales difractantes, pudiendo asociarse este valor con el tamaño medio de la base hexagonal de los nanohilos. Las dimensiones de los nanohilos pudieron ser verificadas a partir de las micrografías obtenidas por Microscopía Electrónica de Barrido (FESEM) en el Centro de Microscopías Avanzadas, FCEyN, UBA.Las muestras también fueron caracterizadas por Dispersión a Bajos Ángulos en Incidencia Rasante (GISAXS) en Laboratorio Nacional de Luz Sincrotrón (LNLS), Campinas, Brasil. Mediante de análisis de imágenes 2D GISAXS se pudo obtener información sobre las dimensiones de los nanohilos y su dispersión. Se discuten los resultados obtenidos y la validez del uso de estas técnicas para la determinación de parámetros como el tamaño medio de la base hexagonal de los nanohilos.