UNIDEF   23986
UNIDAD DE INVESTIGACION Y DESARROLLO ESTRATEGICO PARA LA DEFENSA
Unidad Ejecutora - UE
congresos y reuniones científicas
Título:
Determinación mediante XR y GISAXS de la densidad en películas delgadas de ZnO sintetizadas por sol-gel con diferentes tratamientos de secado
Autor/es:
C.D. BOJORGE; E. A. HEREDIA; H.R. CANEPA; N. E. WALSÖE DE RECA
Lugar:
Merlo (San Luis)
Reunión:
Congreso; 100º Reunión de la Asociación Física Argentina; 2015
Institución organizadora:
Universidad de San Luis
Resumen:
El ZnO nanocristalino es un material de gran interés por sus múltiples aplicaciones (sensores de gases, de humedad, detectores de radiación UV, dispositivos optoelectrónicos, nanogeneradores, etc.). Las características estructurales de los filmes y consecuentemente sus propiedades dependen, entre otros factores, de las condiciones de secado de las sucesivas capas depositadas y del tratamiento térmico final. Si bien se han publicado una gran cantidad de trabajos en relación a muchos de los parámetros que determinan las características de las películas obtenidas, varios de ellos llegan a resultados diferentes, aún cuando las condiciones experimentales son muy similares unas de otras. En la amplia bibliografía existente sobre los parámetros que influyen en la estructura del film, por ejemplo con respecto a porosidad o a la orientación cristalina, no se ha encontrado ninguna mención al tiempo trascurrido entre la realización del depósito y el preheat.En el presente trabajo se estudia la relación entre diferentes condiciones de tratamiento térmico y la densidad cristalina en películas delgadas de ZnO sintetizadas por sol-gel y depositadas por la técnica de spin-coating, para películas obtenidas por dos soluciones precursoras diferentes. Las películas son caracterizadas por difracción de rayos X (XRD) en modo Bragg Brentano y por Microscopía de Barrido de Emisión de Campo (FESEM). La densidad de las películas fue estudiada con radiación sincrotrón por medio de dos técnicas: Reflectividad (XR), mediante la determinación del ángulo crítico de reflexión, y Dispersión de Rayos X de Bajo Ángulo en Incidencia Rasante (GISAXS), mediante la determinación del Pico de Yoneda. Los valores obtenidos por ambas técnicas son comparados.