Microcápsulas de Polielectrolitos sobre interfaces curvas sólidas y fluidas. Estudios estructurales mediante técnicas de dispersión de radiación y microscopía electronica

EUGENIO FERNANDEZ MICONI; HERNÁN RITACCO; MARTA RUANO; J. EF-RUBIO; RAMÓN G. RUBIO; FRANCISCO ORTEGA

La Plata

Conferencia; V Encuentro Argentino de Materia Blanda; 2014

Hemos construido microcápsulas de polieletrolitos utilizando la técnica "Layer-by-Layer", que consiste en la deposición alternada de polielectrolitos de carga opuesta sobre distintos sustratos. Hemos usado como sustratos micropartículas de Latex de poliestireno de 600 y 1000 nm de diámetro, partículas de dióxido de silicio de 1000 nm y también vesículas de fosfolípidos con un diámetro promedio de 100 nm. Para estudiar el proceso de adsorción de cada capa y la estructura formada hemos realizado medidas de dispersión de luz dinámica (DLS) y estática (SLS), lo cual nos ha permitido evaluar indirectamente la formación de las multicapas y estimar el espesor promedio de cada una de ellas. Obtuvimos para los sistemas sustrato-PAH/PSS un espesor de 22 nm tanto sobre sustratos sólidos como sobre vesículas. Por otro lado, en un intento de medir directamente el espesor y la estructura de cada capa hemos realizado experimentos de dispersión de Neutrones a bajos ángulos (SANS), variando las condiciones de contraste utilizando capas de PSS deuterado. Estos experimentos fueron realizados en el Institute Laue Langevin (ILL) en Grenoble, Francia. Hemos encontrado una discrepancia en los valores de espesores obtenidos por SANS respecto a los valores obtenidos por DLS. Obtuvimos por SANS un espesor de alrededor de 11 nm, correspondiente a la mitad del obtenido por DLS. Atribuimos esto al hecho de que DLS mide el radio hidrodinámico, que está fuertemente influenciado por la posible existencia de rugosidades o "colas colgantes" de polielectrolito. Para verificar la formación de multicapas sobre las vesículas, hemos realizado medidas de Cryo-Tem.