Determinación de Estructuras Cristalinas a Partir de Datos de Difracción de Polvos y Métodos de Optimización Global

LUIS REINAUDI; RAÚL E. CARBONIO

Sociedad Mexicana de Cristalografía A.C.

Lugar: México; Año: 2005 p. 59

970-9888-01-3

Las técnicas de difracción (tanto de rayos X como neutrones) aplicadas a monocristales permiten la determinación de estructuras cristalinas complejas en forma rutinaria. Sin embargo, dado que muchos materiales se presentan en la naturaleza en forma de polvos y muchas veces no es posible obtener monocristales de calidad y tamaño suficiente para realizar una determinación estructural, se deben utilizar técnicas de difracción de polvos. Uno de los principales problemas que tiene la difracción de polvos, respecto de la difracción de monocristales, es que la información tridimensional de la red cristalina colapsa en una sola dimensión (intensidad vs. ángulo de difracción) y, como consecuencia de esto, se produce un fuerte solapamiento de las reflexiones con la consecuente pérdida de información. Como consecuencia de esto, la determinación por métodos tradicionales es más dificultosa y a veces imposible de realizar. En el presente libro se describen los pasos a seguir para la determinación de estructuturas cristalinas a partir de datos de difracción de polvos y se presenta el método computacional de Templado Simulado ("Simulated Annealing") como una alternativa a los métodos tradicionales para la obtención del modelo estructural.