IMIT 21220
INSTITUTO DE MODELADO E INNOVACION TECNOLOGICA
Unidad Ejecutora - UE
congresos y reuniones científicas
Título:
Propiedades ópticas In Situ de Sistemas de Capas Múltiples Nanoestructuradas
Autor/es:
V.J.TORANZOS; G. P. ORTIZ; A.J.BUSSO; R.R:KOROPECKI
Lugar:
Buenos Aires, Argentina
Reunión:
Congreso; Reunión Anual de Física; 2008
Institución organizadora:
Asociación de Física Argentina
Resumen:
Presentamos una técnica de medición de reflectancia en tiempo real para analizar, en el transcurso del anodizadoelectroquímico de Silicio, el crecimiento de una Película de Silicio Poroso (PSP). Empleando además ladeterminación independiente del espectro de reflectancia de la PSP seca, logramos correlacionar la porosidady el espesor de la película con la densidad de corriente del anodizado. Esta información es útil para diseñarespejos dieléctricos con una sintonización óptima de su banda de reflexión.
