G. ZAMPIERI; O. GRIZZI; H. ASCOLANI; E.A. SÁNCHEZ; J. MASSARUTTI

Análisis muestras por espectroscopía de fotoelectrones de rayos X (XPS)

2006-03-01 / 2006-07-15

Química

Prod.Metal.,Maq.y Equ.-Maquinaria

G. ZAMPIERI; H. ASCOLANI

Análisis de dos muestras por espectroscopía de electrones Auger (AES)

2007-06-01 / 2007-06-30

Química

Prod.Metal.,Maq.y Equ.-Maquinaria

G. ZAMPIERI; H. ASCOLANI

Análisis de dos muestras por espectroscopía de electrones Auger (AES)

2007-08-01 / 2007-08-31

Química

Prod.Metal.,Maq.y Equ.-Maquinaria

GUILLERMO ZAMPIERI; H. ASCOLANI; O. GRIZZI; E.A. SÁNCHEZ; J.E. GAYONE

Determinación por espectroscopía Auger de la composición química en profundidad de chapas de acero electrocincadas (4to conjunto de muestras)

2005-01-01 / 2005-06-01

Metalurgia

GUILLERMO ZAMPIERI; H. ASCOLANI; E.A. SÁNCHEZ; J.E. GAYONE; O. GRIZZI

Determinación por espectroscopía Auger de la composición química en profundidad de muestras de hojalata con una capa de caseína

2005-01-01 / 2005-06-01

Metalurgia

GUILLERMO ZAMPIERI; O. GRIZZI; H. ASCOLANI; E.A. SÁNCHEZ; J.E. GAYONE

Determinación por espectroscopía Auger y de fotoelectrones la composición química y estado de oxidación de los elementos en la superficie de una probeta de acero fracturada.

2005-01-01 / 2005-06-01

Metalurgia

HUGO ASCOLANI; GUILLERMO ZAMPIERI; J.E. GAYONE; E.A. SÁNCHEZ; O. GRIZZI

Determinación por espectroscopía Auger de la composición química en profundidad de chapas de acero electrocincadas

2004-06-01 / 2004-12-01

Metalurgia

GUILLERMO ZAMPIERI; HUGO ASCOLANI; O. GRIZZI; E.A. SÁNCHEZ; J.E. GAYONE

Determinación por espectroscopía Auger de la composición química en profundidad de chapas de acero electrocincadas (2do. conjunto de muestras)

2004-06-01 / 2004-12-01

Metalurgia

HUGO ASCOLANI; GUILLERMO ZAMPIERI; O. GRIZZI; J.E. GAYONE; E.A. SÁNCHEZ

Determinación por espectroscopía Auger de la composición química en profundidad de chapas de acero electrocincadas (3er conjunto de muestras)

2004-06-01 / 2004-12-01

Metalurgia

ASCOLANI, HUGO

Análisis de muestras de Queratina mediante XPS

2022-03-01 / 2022-12-01

Qca.,Petroqca.y Carboqca.-Sust.Qcas.Basicas

RODRÍGUEZ, LUIS M; J. ESTEBAN GAYONE; H. ASCOLANI

Análisis de sensores de Silicio mediante las técnicas de XPS, RBS y PIXE

2022-05-01 / 2022-06-01

Energia