INTEQUI   20941
INSTITUTO DE INVESTIGACIONES EN TECNOLOGIA QUIMICA
Unidad Ejecutora - UE
congresos y reuniones científicas
Título:
APLICACIÓN DE TECNICAS ?TOP-DOWN? SOBRE MOFs LAMINARES COMO PRECURSORES PARA LA ELABORACIÓN DE FILMS DELGADOS
Autor/es:
G. E. GOMEZ; M. C. BERNINI; E. V. BRUSAU; G. E. NARDA; M. NAZZARRO
Lugar:
Mar del PLata
Reunión:
Congreso; X Reunión anual de la AACr; 2014
Institución organizadora:
Universidad Nacional de Mar del PLata
Resumen:
Los MOFs (Metal Organic Frameworks) o redes metal-orgánicas, ofrecen una amplia plataforma para el desarrollo de materiales con potenciales aplicaciones en áreas tales como luminiscencia [1], adsorción [2] y catálisis [3], las cuales han recibido especial atención durante las últimas décadas. Por ejemplo, MOFs con baja dimensionalidad han sido tratados con técnicas top-down como precursores para la elaboración de films delgados, útiles en el campo de la nanociencia [4]. El compuesto bajo estudio, de fórmula [Eu2(psa)3(H2O)], se basa en Eu(III) y ácido fenilsuccínico; presenta estructura 2D y pertenece al G.E. monoclínico P21/c mientras que su topología puede ser descripta como una red uninodal triconectada tipo fes, con símbolo de Schläfli (4.82) [5]. La síntesis se llevó a cabo incorporando diferentes cantidades de acetato de sodio como agente modulador del crecimiento [6] con el propósito de reducir el tamaño de particula. La caracterización de las muestras miniaturizadas por PXRD y FTIR, permitió corroborar la presencia de la misma fase bulk. Dada la naturaleza laminar de estas estructuras, se realizó la exfoliación de los cristales mediante ultrasonicación de una suspensión del sólido en etanol, empleando la muestra que mostró el menor tamaño de partícula. Este tratamiento, que se enmarca dentro de las mencionadas técnicas top-down, permitió la obtención de sistemas multicapas, con espesores del orden de 50-100 nm, tal como se determinó por Microscopía de Fuerza Atómica (AFM). Otra evidencia de la delaminación de los cristales, es la fuerte orientación preferencial en el patrón de difracción de la muestra exfoliada, debido a una mayor exposición estadística de los planos cristalográficos (100) y (200), siendo el primero el que delimita las capas.