INTEQUI   20941
INSTITUTO DE INVESTIGACIONES EN TECNOLOGIA QUIMICA
Unidad Ejecutora - UE
congresos y reuniones científicas
Título:
Estudio de minerales mediante difracción de rayos x a partir de muestras de masa reducida
Autor/es:
JULIO ANDRADE GAMBOA; EZEQUIEL EDUARDO GONZÁLEZ; JORGE ALBERTO GONZÁLEZ
Lugar:
San Luis
Reunión:
Congreso; XII Jornadas Argentinas de Tratamiento de Minerales, XII JATRAMI; 2014
Institución organizadora:
Universidad Nacional de San Luis
Resumen:
La difracción de rayos X de polvos (DRXP) es una técnica fundamental en ciencia de materiales. En el estudio de minerales, la DRXP es una herramienta útil y versátil para la identificación y cuantificación de fases. Un patrón de DRXP (difractograma) es un registro de intensidad difractada en función del ángulo de difracción, 2, para una geometría instrumental de reflexión. Una fase cristalina pura posee un difractograma dado por las posiciones angulares de los picos de difracción y una distribución de intensidades que le son propias. Esto no sólo es la base para la identificación, sino también para la cuantificación. Por ello, es absolutamente imprescindible que el registro del difractograma se efectúe en condiciones instrumentales que no alteren dichas características. En los casos en los que se dispone de muestra suficiente (> 0,5 g - 1 g), resulta sencillo y rutinario, obtener un difractograma correctamente colectado. Pero cuando se trata de minerales nuevos o poco comunes, puede disponerse de sólo unos miligramos. En estas situaciones, si no se toman las debidas precauciones, los difractogramas de las fases presentes en el mineral ven alteradas las distribuciones de intensidades y en ocasiones las reflexiones de bajo ángulo pueden no ser observadas. En el presente trabajo se presenta un estudio del efecto de las condiciones instrumentales sobre el difractograma de un mineral y las recomendaciones para, aún en el caso de disponer de una reducida masa de muestra, lograr un registro del patrón de DRXP sin alteraciones y de esta manera, evitar el efecto perjudicial sobre los análisis posteriores realizados a base de dicho difractograma.