CCT SAN LUIS   20913
CENTRO CIENTIFICO TECNOLOGICO CONICET - SAN LUIS
Centro Científico Tecnológico - CCT
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- Servicio de Microscopía Electrónica y Microanálisis: 1- SEM - Microscopía Electrónica de Barrido; 2- Microanálisis EDS; 3- Microanálisis WDS(ST 376)[+]Detalle STANObservación topográfica de muestras en altas resolucionesPrestación Detalle1-El Microscopio Electrónico de Barrido permite obtener imágenes de gran resolución y magnificaciones de hasta 300Kx; 2-El espectrómetro WDS permite analizar elementos mayoritarios, minoritarios y trazas con resoluciones menores de 10 eV. y su límite de detección mínima es del orden de las ppm; 3-El espectrómetro EDS permite analizar elementos mayoritarios y minoritarios, con resoluciones menores de 100-150 eV. y su límite de detección mínima es del orden del 1%.MetodologíaCuando un haz de electrones finamente colimado interactúa con un blanco grueso se producen varios fenómenos físicos en un pequeño volumen. Estos fenómenos se caracterizan por la radiación corpuscular o electromagnética que tiene su origen en el frenado y dispersión de los electrones incidentes y en la ionización de los átomos del blanco. En este último caso la desexcitación de los átomos ionizados produce fotones característicos de los elementos presentes en la muestra. La energía de esta radiación identifica a los distintos componentes del material irradiado (análisis cualitativo), y su intensidad permite determinar sus concentraciones respectivas (análisis cuantitativo). El análisis de la diversidad de señales originadas con un haz de electrones (electrones secundarios y retrodifundidos, radiación electromagnética, etc.) brinda información detallada y útil sobre la topografía y la composición en regiones muy pequeñas de las muestras analizadas. Esas imágenes tienen la particularidad de presentar en foco toda la superficie analizada. Por otro lado, el uso de un haz de luz colimado permite el análisis químico en volúmenes seleccionados muy pequeños, del orden de unos pocos µm3 (microanálisis). Los electrones incidentes tienen energías que típicamente oscilan entre 10 y 30 keV, y penetran dentro de la muestra hasta una distancia de alrededor de 1µm, difundiéndose lateralmente otro tanto; esta dispersión constituye el límite para la resolución espacial de la técnica. El espectrómetro WDS permite analizar en forma secuencial elementos mayoritarios, minoritarios y trazas desde el Be (Z = 4) hasta el U (Z = 92), con resoluciones menores de 10 eV.EquipamientoEspectrómetro Dispersivo en Energía LABMEM EDAX Genesis 2000 | Espectrómetro Dispersivo en Longitudes de Onda LABMEM Inca Wave 700 | Microscopio Electrónico de Barrido LABMEM Carl Zeiss 1450VPDisciplina PrimariaCiencias QuimicasDisciplina DesagregadaQUIMICA-VARIASCampo de AplicaciónVarios camposActividad IndustrialE - Fabricación de metales comunes - E | E - Reciclamiento de desperdicios y desechos metálicos - E | E - Fabricación de coque, productos de la refinación del petróleo y combustible nuclear - E | E - Curtido y adobo de cueros; fabricación de maletas, bolsos de mano, artículos de talabartería y guarnicionaría, y calzado - E | E - Fabricación de instrumentos médicos, ópticos y de precisión y fabricación de relojes - E | E - Industrias manufactureras - E | E - Extracción de minerales de uranio y torio - E | E - Fabricación de otros productos minerales no metálicos - E | E - Fabricación de productos de caucho y plástico - E | E - Fabricación de papel y de productos de papel - E | E - Aserrado y acepilladura de madera - E | E - Ensayos y análisis técnicos - E | E - Elaboración de productos lácteos - E | E - Extracción de minerales metalíferos - E | E - Elaboración y conservación de frutas, legumbres y hortalizas - E | E - Fabricación de productos elaborados de metal, excepto maquinariaPalabras ClaveSEM Scanning Electron Microscope
MEB Microscopio electrónico de barrido
- Servicio de Microscopía Electrónica y Microanálisis: preparación de Muestras : 1- Preparación de muestras; 2- Metalizado de muestras(ST 377)[+]Detalle STANPreparación de Muestras para su posterior análisis por Microscopía Electrónica y MicroanálisisPrestación Detalle1- Se limpia la muestra y se la sujeta con una cinta de aluminio, u otro material conductor, en el porta muestras para su posterior análisis.; 2- Se metaliza la muestra con oro o carbono.MetodologíaSe limpia la muestra y se la sujeta con una cinta de aluminio, u otro material conductor, en el porta muestras. Luego, se metaliza la muestra con oro o carbono para su posterior análisis.Disciplina PrimariaCiencias QuimicasDisciplina DesagregadaFISICA-VARIASCampo de AplicaciónVarios camposActividad IndustrialE - Producción de madera y fabricación de productos de madera y corcho, excepto muebles; fabricación de artículos de paja y de materiales trenzables - E | E - Extracción de minerales de uranio y torio - E | E - Construcción - E | E - Curtido y adobo de cueros; fabricación de maletas, bolsos de mano, artículos de talabartería y guarnicionaría, y calzado - E | E - Agricultura, ganadería, caza y silvicultura - E | E - Fabricación de productos elaborados de metal, excepto maquinaria y equipo - E | E - Elaboración de productos lácteos - E | E - Explotación de minas y canteras - E | E - Reciclamiento de desperdicios y desechos no metálicos - E | E - Reciclamiento de desperdicios y desechos metálicos - E | E - Industrias manufactureras n.c.p. - E | E - Fabricación de productos de caucho y plástico - E | E - Fabricación de otros productos minerales no metálicos - E | E - Actividades de servicios agrícolas y ganaderos, excepto las actividades veterinarias - E | E - Extracción de minerales metalPalabras ClaveSEM Scanning Electron Microscope
MEB Microscopio electrónico de barrido
- Asesoramiento para puesta en valor de sitios arqueológicos.(ST 3830)[+]Detalle STANAsesoramiento para la elaboración de cartelería y disposición de la muestra de objetos arqueológicos en centros culturales, museo y otros centro de exposición.MetodologíaSe establece número mínimo de vasijas enteras y fragmentos. Se registran fotográficamente y el diagnóstico cronológico y cultural se establece en base a atributos macroscópicos: decoración, acabado de superficies, morfología y marcas de uso. Con ello se genera un catálogo de piezas cerámicas. Se localizan en un SIG todos los sitios arqueológicos del distrito, conocidos o descriptos en la bibliografía. Se genera un mapa y se confecciona un póster para ser expuesto en la sala de exhibición.Disciplina PrimariaArqueología y Antropología BiológicaDisciplina DesagregadaANTROPOLOGIA-ARQUEOLOGIACampo de AplicaciónCiencia y culturaActividad IndustrialActividades profesionales, científicas y técnicas n.c.p.Palabras ClaveArqueología
Patromonio cultural
Puesta en valor
- Asesoramiento en el análisis de viabilidad económica de Cadenas de Valor productivos.(ST 6165)[+]Detalle STANEl objetivo propuesto es evaluar y analizar las posibilidades de innovación e inversión para las Cadenas de Valor productivas regionales tanto para organismos públicos como privados.MetodologíaSe lleva a cabo el análisis y procesamiento de la información de fuentes primarias y secundarias utilizando estadísticas descriptivas, gráficos y figuras. Dentro de estas se prevé la elaboración de mapas en formato shapefile con el propósito de georreferenciar el emplazamiento y la distribución de las actividades. Por otra parte, el análisis de la legislación vigente, en todos los niveles de gobierno posible, permitirá identificar las oportunidades que pueden tener las inversiones productivas para instalarse en la unidad geográfica de interés, como también los vacíos legales que puedan existir y resultar en una amenaza para estas. Se realizará la entrega de un informe de viabilidad.Disciplina PrimariaSociología, Comunicación Social y DemografíaDisciplina DesagregadaECONOMIACampo de AplicaciónVarios camposActividad IndustrialEnsayos y análisis técnicosPalabras ClaveCadenas de valor
Viabilidad económica
Innovación
Productivas