EVALUACIÓN DE LA RESPUESTA DEL EDS EN FUNCIÓN DE LA DISTANCIA DE TRABAJO

MA. SILVINA LASSA, DANIEL BARI, F.A. ROIG

Mendoza

Congreso; III Congreso Argentino de Microscopia; 2014

La posibilidad de analizar los elementos constitutivos de una muestra ubica a la microscopía electrónica de barrido y de energía dispersiva de rayos X en una posición ventajosa frente a otras técnicas, en especial cuando la muestra no puede ser destruida o se cuenta con poca cantidad, como por ejemplo, cuando se pretende determinar cristales en células del parénquima del xilema de las plantas, útil en la caracterización de los contenidos de excreción en la vacuola celular y en la clasificación taxonómica del espécimen en estudio. Dicha identificación se basa en la determinación de la energía de los fotones de rayos X emitidos gracias a la interacción inelástica de los electrones del haz incidente (o electrones primarios), que arrancan, en cada interacción, un electrón de alguno de los orbitales atómicos de los elementos presentes en la muestra, dejándolos en distintos estados excitados, según especie y orbital dado. Pero tales estados excitados no son estables, presentando tiempos de vida media típicos de aproximadamente 1ps, hasta que alguno de los electrones de las capas más externas ocupa la vacancia electrónica producida, emitiendo como un cuanto de rayos X característico la energía en exceso que se corresponde exactamente con la diferencia entre las energías de los orbitales intervinientes en la transición. Para una adecuada cuantificación EDS, es necesario que llegue al detector la mayor cantidad posible de ?cuentas?, proporcionales al número de fotones de rayos X característicos emitidos por el espécimen. Para ello, desde el microscopio electrónico, se deben controlar una serie de variables, entre ellas, la distancia de trabajo. En este trabajo se analiza la dependencia de la respuesta del EDS con la distancia de trabajo, ara así poder determinar la más adecuada para los análisis de rutina.