CCT ROSARIO   20442
CENTRO CIENTIFICO TECNOLOGICO CONICET - ROSARIO
Centro Científico Tecnológico - CCT
congresos y reuniones científicas
Título:
El USO DE PARAMETROS DE CALIDAD DE EBSD EN LA SEPARACION DE FASES EN MATERIALES MULTIFÁSICOS
Autor/es:
BOLMARO, RAÚL; TARTALINI, VANINA; RISSO, PABLO; ÁVALOS, MARTINA
Reunión:
Congreso; 4° Congreso de la Asociación Argentina de Microscopía (SAMIC 2016); 2016
Resumen:
La técnica de Electron Back Scattering Diffraction necesita de diversos parámetros de calidad para evaluar lacalidad, corrección y confiabilidad de los resultados obtenidos. Los mismos proveen varios tipos de evaluaciónde la corrección de las determinaciones de las orientaciones efectuadas por medio de la indexación de lospatrones de Kikuchi, siendo calculados en sus diversos estadios: detección de los patrones de Kikuchi, cálculo enel espacio de Hough e indexación del patrón. Una discusión extensa se puede encontrar en Pinard et al. [1]. Elíndice de calidad (IQ, por sus siglas en inglés) mide el contraste de las imágenes colectadas en la pantallafluorescente o de su transformada de Hough y la consecuente posibilidad de obtener una buena indexación de lospatrones. El índice de confianza (CI, ídem) mide la corrección relativa de las diferentes opciones de indexaciónhalladas por el software, permitiendo adoptar la de mayor CI como la correcta. El parámetro ?Fit? mide ladiferencia angular promedio entre las líneas del patrón experimental y el calculado. Estos parámetros, osimilares, están implementados en la mayoría de los programas comerciales de EBSD.En un modo avanzado de utilizar la técnica de EBSD se puede efectuar barridos simultáneos con el detectorEDS, que permite la detección de fases diferentes y su indexación cristalográfica, basándose en el contenidoelemental de cada pixel. Esta metodología se aplica con ventaja en los casos en que la composición difiereapreciablemente entre fase y fase, pero resulta inútil cuando las fases tienen composiciones muy similares.Si por otro lado las estructuras cristalográficas no son discernibles mediante las figuras de Kikuchi ladeterminación de la fracción de volumen de cada fase y su correlación con los cristales indexados es dificultosa.Una técnica utilizada con relativo éxito consiste en determinar la función distribución del parámetro IQ que sueletener valores diferentes para cada fase, debido a diversos factores como la mayor presencia de defectos omínimas diferencias en los parámetros de red o desvíos respecto de los valores de una estructura BCC debido ala tetragonalización, como ocurre entre la martensita y la ferrita [2, 3].