El Uso de Parámetros de Calidad de EBSD en la separación de Fases en Materiales Multifásicos

BOLMARO, RAÚL; RISSO, PABLO; ÁVALOS, MARTINA; TARTALINI, VANINA

San Carlos de Bariloche

Congreso; 4° Congreso Argentino de Microscopía ? SAMIC; 2016

Instituto Balseiro. Comisión Nacional de Energía Atómica (CNEA)

p { margin-bottom: 0.21cm; direction: ltr; color: rgb(0, 0, 0); }p.western { font-family: "Times New Roman","Times New Roman",serif; font-size: 12pt; }p.cjk { font-family: "Times New Roman","Times New Roman",serif; font-size: 12pt; }p.ctl { font-family: "Times New Roman","Times New Roman",serif; font-size: 12pt; }a:link { color: rgb(0, 0, 255); }a.sdfootnotesym-western { font-size: 10pt; }a.sdfootnotesym-cjk { font-size: 10pt; }La técnica de Electron Back Scattering Diffraction (EBSD) necesita de diversos parámetros de calidad para evaluar la calidad, corrección y confiabilidad de los resultados obtenidos. El índice de calidad (IQ, por sus siglas en inglés) mide el contraste de las imágenes colectadas en la pantalla fluorescente o de su transformada de Hough y la consecuente posibilidad de obtener una buena indexación de los patrones. El índice de confianza (CI, ídem) mide la corrección relativa de las diferentes opciones de indexación halladas por el software, permitiendo adoptar la de mayor CI como la correcta. El parámetro "Fit" mide la diferencia angular promedio entre las líneas del patrón experimental y el calculado. Se puede efectuar barridos simultáneos con el detector EDS, que permite la detección de fases diferentes y su indexación cristalográfica, basándose en el contenido elemental de cada pixel. Esta metodología se aplica con ventaja en los casos en que la composición difiere apreciablemente entre fase y fase. Una técnica utilizada con relativo éxito consiste en determinar la función distribución del parámetro IQ que suele tener valores diferentes para cada fase, debido a diversos factores como la mayor presencia de defectos o mínimas diferencias en los parámetros de red o desvíos respecto de los valores de una estructura BCC debido a la tetragonalización, como ocurre entre la martensita y la ferrita [2,3]. Debido a la baja capacidad de la técnica EDS para determinar cuantitativamente y con precisión la presencia de C, entre los límites en que martensita y ferrita usualmente difieren, la técnica más avanzada de barrido simultáneo de EDS+EBSD no es aplicable en la mayor parte de los aceros. En el presente trabajo se efectúa una determinación, mediante la utilización de los tres parámetros de error mencionados, para la separación de las fases ferrita y martensita en un acero Dual Phase 780 deformado.